Gebraucht KLA / TENCOR Alpha Step 200 #293671323 zu verkaufen
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ID: 293671323
Profilometer
Computerized surface profiling incorporating TENCOR Instrument
Programmable X, Y Stage option provides automatic measurements
Programmable X, Y Stage-motorized movement
Up to 9 User-programmable stage positions
Real-time analysis-computer calculation
Continual display for delta average
High resolution-routinely measures below 200 A
5 A of Vertical resolution
400 A of Horizontal resolution
Video micro-scope zooms from 40X to 120X
Optional 90X to 270X
High power and 12X to 36X low power magnifications
CRT Display plus integral thermal printer
Built-in internal shock isolation
Digital data handling
Information display.
KLA Alpha Step® 200 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik. Es wurde entwickelt, um höchste Genauigkeit und Wiederholbarkeit in der Wafer-Prüfung und Messtechnik zu liefern. Dieses System umfasst eine erweiterte automatisierte optische Inspektion (AOI), eine Unterangström-Schritthöhenmesseinheit und eine Reihe von Software-Tools zur Unterstützung einer Vielzahl von Wafer- und Chip-Charakterisierungsanwendungen. KLA/TENCOR Alpha Step 200 nutzt einen modularen Aufbau, der es ermöglicht, individuell auf die spezifischen Herstellerbedürfnisse zugeschnitten zu werden. Diese vielseitige Maschine ist mit einer hochauflösenden CCD-Kamera und LED-Beleuchtung ausgestattet, um eine präzise optische Inspektion von Wafern und Geräten zu ermöglichen. Die mitgelieferte intuitive Software macht es einfach, Daten aus dem Tool zu überwachen, zu analysieren und zu speichern. Der Kern der KLA ALPHASTEP 200 ist ihr Unterangström-Schritthöhenmesswerkzeug. Dieses Tool verwendet fortschrittliche Nanopositionierungstechnologie, um die genauesten verfügbaren Schrittmesswerte zu liefern. Der einheitliche Softwarevermögenswert erlaubt Benutzern schnell, und bewerten Sie genau Schritte mindestens 0,05 nm erreichbare durch seinen Subangströmschritthöhenanerkennungsentdeckungsalgorithmus. Die Vielseitigkeit von TENCOR ALPHA-STEP 200 macht es zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen in Forschung und Produktion. Dieses Modell kann für erweiterte Wafer-Charakterisierung, Fehleranalyse und erweiterte Messtechnik verwendet werden. Darüber hinaus unterstützt es eine breite Palette von Produkttypen, von Halbleiter-, MEM- und HF-Schaltungen bis hin zu Nanostrukturen und vielen anderen. Genauigkeit und Wiederholbarkeit sind die Hauptmerkmale von ALPHA-STEP 200. Es wurde entwickelt, um eine Datenauflösung von einem Angstrom oder besser zu erreichen. Die Kombination aus präziser optischer Inspektion und subangströmender Schritthöhenmessung ermöglicht es Benutzern, hochgenaue Messungen zu erhalten und die kleinsten Merkmale und Defekte zu identifizieren. Darüber hinaus ermöglicht die erweiterte Software-Suite automatisierte Datenausgabe, schnelle Prozessverbesserungsanalyse und Bewertung von Prozessrezepten. Die leistungsstarke Software KLA/TENCOR ALPHASTEP 200 ermöglicht auch die Verwaltung, Organisation und Speicherung verschiedener fehler- und messtechnikbezogener Daten. Auf diese Weise können Benutzer ihre Wafer-Test- und Metrologieaufgaben anpassen und optimieren. Zusammenfassend ist KLA Alpha Step 200 eine hochmoderne Ausrüstung, die Präzision, Wiederholbarkeit und Genauigkeit für die anspruchsvollsten Wafer-Prüf- und Messtechnik-Anwendungen bietet.
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