Gebraucht KLA / TENCOR Alpha Step 200 #293746497 zu verkaufen

KLA/TENCOR Alpha Step 200 Wafer-Prüf- und Messtechnik ist eine leistungsstarke Messtechnik-Plattform für präzise dimensionale Messtechnik, Oberflächenanalyse und qualitative elektrische Messungen. Dieses System wurde entwickelt, um messtechnische Daten im Nanometermaßstab bereitzustellen und eignet sich ideal für den Einsatz in der Halbleiterherstellung, der Gerätecharakterisierung und der Prozessoptimierung. KLA ALPHASTEP 200 verwendet die Laser-Interferometrie-Technologie, um hochpräzise Messungen von Oberflächenmerkmalen und -merkmalen für mikroskopische Strukturen einschließlich kritischer Abmessungen bereitzustellen. Mit bis zu 10X Auflösung ist das Gerät in der Lage, Strukturen zwischen 40nm und 100µm in der Größe zu analysieren. Es kann auch extrem schnelle Scangeschwindigkeiten von bis zu 6 cm2/Sekunde erreichen - viel schneller als herkömmliche optische Techniken. TENCOR ALPHA-STEP 200 führt auch qualitative elektrische Messungen wie Oxidationstiefen- und Ätztiefenmessungen, Leckstrom, Kontaktwiderstand und Moire-Messungen durch. Darüber hinaus bietet die Maschine eine Vielzahl von Messmodi, darunter RMS und Peak-to-Valley. Alle Daten werden auf seiner Festplatte mit großer Kapazität für eine einfache Analyse und gemeinsame Nutzung gespeichert. TENCOR ALPHASTEP 200 integriert sich nahtlos in komplexe Produktionsumgebungen und bietet eine unschlagbare Kombination aus Leistung, Genauigkeit, Wiederholbarkeit und Benutzerfreundlichkeit. Es ist mit einer intuitiven Benutzeroberfläche und automatisierten Tools wie Rezepterstellung und Datenarchivierung konzipiert. Darüber hinaus bieten verschiedene Messtechniken, die direkt von der Stufensondenspitze zur Verfügung stehen, extrem genaue Wafer-Pegelmessungen. Abschließend bietet ALPHASTEP 200 eine außergewöhnlich starke Kombination aus leistungsstarker Messtechnik, Präzisionsmessung und flexibler Software. Dieses Tool ist besonders nützlich für Produktionsumgebungen, da es eine unschlagbare Kombination aus Messgeschwindigkeit, Genauigkeit und Wiederholbarkeit bietet.