Gebraucht KLA / TENCOR Alpha Step 200 #9315702 zu verkaufen

KLA/TENCOR Alpha Step 200 Wafer Prüf- und Messtechnik Ausrüstung ist entworfen, um hochpräzise und zuverlässige Messungen für eine breite Palette von Halbleiter- und MEMS-Anwendungen zu bieten. Die KLA ALPHASTEP 200 bietet mit Hilfe von Software-fähigen KLA-Algorithmen und optischen Systemen eine unvergleichliche Genauigkeit und Geschwindigkeit in einem kompakten, einfach zu bedienenden Paket. Das System verfügt über eine patentierte berührungslose Methode zur Inspektion von Wafern, die eine schnelle und zuverlässige Messung kritischer Parameter wie kritischer Dimension (CD) und Überlagerungsmarkenoffset sowie das räumliche und zeitliche Ansprechen oberflächenbehandelter Wafer ermöglicht. TENCOR ALPHA-STEP 200 verwendet einen integrierten CCD-Detektor (Charge Coupled Device) und mehrere Detektoren, die auf einem Präzisionsdrehtisch montiert sind, um ein großes Sichtfeld zu bieten. Darüber hinaus ist das Gerät mit einer hohen numerischen Apertur (NA) optischen Design ausgestattet und bietet sowohl Multi-Wellenlänge und Multi-Kristall-Beleuchtung. Die fortschrittlichen Vision-Algorithmen ermöglichen es der Maschine, Muster mit einer extrem hohen Auflösung zu erkennen und zu erkennen, mit Messungen, die auf 0,5 Nanometer genau sind. Dies ermöglicht zuverlässige und präzise Messungen sowohl dünner als auch dicker Folienoberflächen und ermöglicht es dem Werkzeug, strukturelle Merkmale wie Fotoresistlinien, Schnitte und scharfe Ecken besser zu erkennen und zu isolieren. Die Anlage bietet eine breite Palette von Funktionen und Optionen, so dass sie auf eine Reihe von Test- und Messtechnikanforderungen zugeschnitten werden kann. Es enthält eine Vielzahl von Optionen zur Steuerung von Scan-Vergrößerungen, Schrittgrößen und Feldgrößen für kleine und große interessante Regionen. ALPHASTEP 200 ist zudem mit einer Reihe von softwaregesteuerten Automatisierungsfunktionen ausgestattet, die einen hohen Durchsatz und effiziente Tests ermöglichen. Zusammenfassend ist das TENCOR ALPHASTEP 200 Wafer-Prüf- und Metrologiemodell für die schnelle und zuverlässige Messung kritischer Parameter und struktureller Merkmale in Halbleiter- und MEMS-Anwendungen konzipiert, die ein beispielloses Maß an Genauigkeit und Geschwindigkeit bieten. Die fortschrittlichen Software-fähigen Algorithmen und der hochauflösende CCD-Detektor ermöglichen es dem Gerät, Muster auf Submikron-Ebene zuverlässig zu erkennen und zu erkennen und ermöglicht Automatisierung für Hochdurchsatz und effiziente Tests.