Gebraucht KLA / TENCOR Alpha Step 500 #9084578 zu verkaufen

KLA/TENCOR Alpha Step 500 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die entwickelt wurde, um die Dicke, Zusammensetzung, geometrisches Profil und elektrische Eigenschaften einer Vielzahl von Materialien zu messen, einschließlich Halbleiter-, optoelektrischen und mikromechanischen Komponenten. Dieses System kombiniert optische Interferometrie, Infrarotspektroskopie und Kapazität-Spannung-Techniken, um Daten auf einer breiten Palette von Substraten zu sammeln. Mit seiner sehr präzisen, dreidimensionalen optischen Fokustechnik misst KLA Alpha Step 500 die Dicke nahezu jedes Materials bis zu einem Bruchteil eines Nanometers an Genauigkeit. Dadurch kann gleichzeitig die Zusammensetzung und Zusammensetzungsverteilung des Wafermaterials gemessen sowie dessen elektrische Eigenschaften, wie Widerstands- und Stromleckageeigenschaften, getestet werden. Dadurch kann das Gerät die schlechten Chargen erkennen und die Rauheitsschwankungen der Wafer messen. TENCOR ALPHASTEP 500 verwertet Hochleistungsinfrarotspektrometer und Kapazitätsstromspannungsdatenerfassungssysteme, um Halbleiter und optoelektronische Oblaten zu charakterisieren. Diese Maschine kann verschiedene zusammengesetzte Halbleitermaterialsysteme, wie Silikongermanium, Galliumsnitrid und Silikonkohlenstoffnitrid identifizieren, und ihre Substratoberflächenzusammensetzungsausschüttungen mit einer Submonoschichtenentschlossenheit messen. Darüber hinaus ist KLA/TENCOR ALPHASTEP 500 in der Lage, das optische Gesichtsfeld in Echtzeit zu positionieren, was eine genaue Messung der Zusammensetzung und Dicke der Schicht ermöglicht. KLA ALPHASTEP 500 benötigt eine Reinraumumgebung, um alle Messungen ordnungsgemäß durchführen zu können. Dieses Tool verfügt auch über eine zuverlässige Automatisierungsplattform mit einem Roboterarm, der mit verschiedenen Sonden ausgestattet ist. Dies gewährleistet eine wiederholbare Messung der Substrateigenschaften und ermöglicht eine Hochdurchsatzanalyse. Alpha Step 500 ist ideal für die Materialforschung und -entwicklung sowie für die Prozess- und Qualitätskontrolle in Halbleiter- und optoelektronischen Fertigungslinien. Dieses Asset ist auch ein fortschrittliches Werkzeug zur Charakterisierung und Analyse ständig schrumpfender, komplexer mikroelektronischer Komponenten.