Gebraucht KLA / TENCOR Alpha Step 500 #9153565 zu verkaufen

ID: 9153565
Wafergröße: 6"
Weinlese: 2001
Surface profiler, 6" Stylus-based surface profiler adjustable between 1 and 100 mg Computer controlled scanning and data collection High resolution VGA monitor zoom optics Multi-scan average mode scans up to 10 times Standard surface parameters selections: Up to 30 Surface characteristic measurement: With resolution to 1A 2D Metrology profiling: 10Å (1s) Repeatability enables process control: 0.1% 2001 vintage.
KLA/TENCOR Alpha Step 500 ist eine führende Wafer-Prüf- und Messtechnik-Plattform, die hochgenaue und zuverlässige Messungen der physikalischen Eigenschaften von Halbleiterscheiben ermöglicht. Das System verfügt über eine präzise und robuste Abtastgeschwindigkeitsmesseinheit, die statische Profile in Nanometergröße genau messen kann, wie sie unter der Waferkante und der Rückseite des Wafers zu finden sind. KLA Alpha Step 500 Maschine verwendet fortschrittliche Technologie, um die genauen elektrischen Eigenschaften der Waferoberfläche zu messen und zu bestimmen. Sie kann sowohl oberflächen- als auch unterflächige elektrische Eigenschaften eines Wafers genau beurteilen und dem Endanwender ein umfassendes Verständnis für sein Produkt vermitteln. In Verbindung mit der KLA ProSphere Data Acquisition and Analysis Platform liefert TENCOR ALPHASTEP 500 hochgenaue Ergebnisse, mit denen Prozess- und Produktfehler auf Halbleiterscheiben identifiziert, quantifiziert und gemindert werden können. ALPHASTEP 500 ist sehr bedienerfreundlich und einfach zu bedienen. Sein intuitives Softwarepaket, einschließlich grafischer Benutzeroberfläche, ermöglicht es Benutzern, schnell und einfach Messungen vorzunehmen, Daten zu analysieren und Ergebnisse auf dem Bildschirm anzuzeigen. TENCOR Alpha Step 500 verfügt auch über erweiterte Diagnosefunktionen, mit denen Benutzer Fehler und Verbesserungsbereiche leicht erkennen können. Darüber hinaus ermöglicht das ProSphere-Paket eine ausgefeiltere Analyse von Daten, wodurch Benutzer Trends im Laufe der Zeit besser erkennen und analysieren können. Für maximale Zuverlässigkeit ist das KLA/TENCOR ALPHASTEP 500 Tool auf Flexibilität und Verbesserungsmöglichkeiten ausgelegt. Anwender können leicht auf höhere Messgeschwindigkeiten für schnelle und genaue Ergebnisse aktualisieren. Abschließend ist KLA ALPHASTEP 500 eine hochentwickelte und zuverlässige Wafer-Prüf- und Messtechnik-Plattform für die anspruchsvolle Analyse einer Vielzahl von Halbleiter-Wafer-Eigenschaften. Die präzisen und robusten Scansysteme, das intuitive Softwarepaket und die leistungsstarken Diagnosefunktionen bieten schnelle und zuverlässige Ergebnisse, die ideal für eine genaue Prozesskontrolle und -verbesserung sind.
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