Gebraucht KLA / TENCOR ASET F5x #9240546 zu verkaufen
Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.
Verkauft
ID: 9240546
Wafergröße: 8"-12"
Weinlese: 2003
Film thickness measurement system, 8"-12"
8" Conversion: Insert type
Data transfer: Floppy disk / DVD R/W
Operation: Mouse & keyboard
Emergency button cover: Recessed type
Door interlock
Recipe auto backup
Auto data deletion
Auto error log file save & classification
Queued loading (Queue recipe)
Operating system: Windows XP
Spectroscopic ellipsometer
Spectrometer
Wavelength of light source: 220~800 nm
Spot size for thickness & RI: < 40μm
Spot size for reflectivity: < 40μm
Mapping function: 2D & 3D
Pattern recognition
Recipe copy with film library
SE & DBS Optics
Optic lens: 1x, 2x, 4x, 15x
Pattern score: FA
Location screen: Visualize on one screen
Pattern recognition image / Measurement site save
Spectrum save function (Save all at once)
Spectrum save and auto deletion (Save everything, Hard Disk Drive (HDD))
Recipe / Library import: On-time intromit at TCP/IP
AMHS
Project
Signal tower
Wafer breakage: ≤ 1/100,000 Cycles
S3 Handler
Options:
GEM SEMI E30-98
SECS II SEMI E5-93
Recipe generator
Remote access capability
Light tower
Carrier ID, 12"
Safety shield, 12"
Light tower
HSMS Communication
Recipe generator
S3 Handler
Controller:
CPU: Pentium 4 3.0 GHz
Memory: 1.024 G Byte DRAM
(2) Hard Disk Drives (HDD): 80 GB
2003 vintage.
KLA/TENCOR ASET F5x ist eine Multisensor-Messtechnik, die für Wafertests und Messtechnik verwendet wird. Es wurde entwickelt, um zuverlässige und präzise Messungen der verschiedenen Schichten innerhalb einer Waferprobe einschließlich Silizium, metallischen Schichten und organischen Schichten bereitzustellen. Seine Mehrkomponenten-Detektionstechnologie wird verwendet, um die elektrischen Eigenschaften und die physikalische Struktur der Testprobe zu messen. Das System besteht aus einer mehrachsigen Plattform, einer hochauflösenden Stufe und einer qualitativ hochwertigen Abbildungseinheit. Die mehrachsige Plattform hat die Fähigkeit, den Probenwafer mit hohen Geschwindigkeiten mit hoher Genauigkeit zu bewegen, so dass die Prüfmaschine eine Vielzahl von Daten schnell sammeln kann. Die hochauflösende Stufe ist hochpräzise, so dass das Werkzeug die Eigenschaften des Wafers bis auf das Nanometerniveau messen kann. Das bildgebende Element verwendet optische Techniken, um die Merkmale der Testprobe zu erkennen, und gibt den Wafertestern Einblick in die Struktur der Probe. KLA ASET-F5X ist mit dem höchsten Maß an Funktionalität im Auge entworfen. Es ist einfach zu bedienen, mit einer benutzerfreundlichen webbasierten Oberfläche und automatisierten sowie manuellen Testprozessen. Das Modell kann Messungen von hoher Genauigkeit innerhalb von Minuten aufgrund seiner leistungsfähigen Algorithmen und präzise Instrumentierung. Es ist auch mit Echtzeit-Feedback ausgestattet, so dass Ingenieure Daten in Echtzeit überwachen und Echtzeit-Anpassungen des Testprozesses vornehmen können. TENCOR ASET F 5 X nutzt fortschrittliche Mikroskopietechniken, wie Elektronenmikroskopie, sowie konventionelle optische Bildgebung, um ein Bild der Testprobe zu erstellen. Die Mikroskopietechniken liefern detaillierte Informationen über die Eigenschaften der Probe, während die optische Bildgebung es den Testern ermöglicht, die Eigenschaften der Probe auf nicht-invasive Weise zu messen. Dies ermöglicht eine effiziente Möglichkeit, genaue Messwerte an einer Vielzahl von Parametern innerhalb des Testwafers zu sammeln. Die Ausrüstung ist sehr robust und zuverlässig ausgelegt, was einen hohen Durchsatz an Tests und genaue Ergebnisse ermöglicht. Das System ist auch für hohe Leistung konzipiert, ermöglicht hochauflösende Messungen und verbesserte Genauigkeit. Dieses Gerät ist eine ideale Lösung für Halbleiter- und Elektroniktests und liefert schnelle, zuverlässige und präzise Daten für eine Vielzahl von Waferanwendungen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor