Gebraucht KLA / TENCOR ASET F5x #9240546 zu verkaufen

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KLA / TENCOR ASET F5x
Verkauft
ID: 9240546
Wafergröße: 8"-12"
Weinlese: 2003
Film thickness measurement system, 8"-12" 8" Conversion: Insert type Data transfer: Floppy disk / DVD R/W Operation: Mouse & keyboard Emergency button cover: Recessed type Door interlock Recipe auto backup Auto data deletion Auto error log file save & classification Queued loading (Queue recipe) Operating system: Windows XP Spectroscopic ellipsometer Spectrometer Wavelength of light source: 220~800 nm Spot size for thickness & RI: < 40μm Spot size for reflectivity: < 40μm Mapping function: 2D & 3D Pattern recognition Recipe copy with film library SE & DBS Optics Optic lens: 1x, 2x, 4x, 15x Pattern score: FA Location screen: Visualize on one screen Pattern recognition image / Measurement site save Spectrum save function (Save all at once) Spectrum save and auto deletion (Save everything, Hard Disk Drive (HDD)) Recipe / Library import: On-time intromit at TCP/IP AMHS Project Signal tower Wafer breakage: ≤ 1/100,000 Cycles S3 Handler Options: GEM SEMI E30-98 SECS II SEMI E5-93 Recipe generator Remote access capability Light tower Carrier ID, 12" Safety shield, 12" Light tower HSMS Communication Recipe generator S3 Handler Controller: CPU: Pentium 4 3.0 GHz Memory: 1.024 G Byte DRAM (2) Hard Disk Drives (HDD): 80 GB 2003 vintage.
KLA/TENCOR ASET F5x ist eine Multisensor-Messtechnik, die für Wafertests und Messtechnik verwendet wird. Es wurde entwickelt, um zuverlässige und präzise Messungen der verschiedenen Schichten innerhalb einer Waferprobe einschließlich Silizium, metallischen Schichten und organischen Schichten bereitzustellen. Seine Mehrkomponenten-Detektionstechnologie wird verwendet, um die elektrischen Eigenschaften und die physikalische Struktur der Testprobe zu messen. Das System besteht aus einer mehrachsigen Plattform, einer hochauflösenden Stufe und einer qualitativ hochwertigen Abbildungseinheit. Die mehrachsige Plattform hat die Fähigkeit, den Probenwafer mit hohen Geschwindigkeiten mit hoher Genauigkeit zu bewegen, so dass die Prüfmaschine eine Vielzahl von Daten schnell sammeln kann. Die hochauflösende Stufe ist hochpräzise, so dass das Werkzeug die Eigenschaften des Wafers bis auf das Nanometerniveau messen kann. Das bildgebende Element verwendet optische Techniken, um die Merkmale der Testprobe zu erkennen, und gibt den Wafertestern Einblick in die Struktur der Probe. KLA ASET-F5X ist mit dem höchsten Maß an Funktionalität im Auge entworfen. Es ist einfach zu bedienen, mit einer benutzerfreundlichen webbasierten Oberfläche und automatisierten sowie manuellen Testprozessen. Das Modell kann Messungen von hoher Genauigkeit innerhalb von Minuten aufgrund seiner leistungsfähigen Algorithmen und präzise Instrumentierung. Es ist auch mit Echtzeit-Feedback ausgestattet, so dass Ingenieure Daten in Echtzeit überwachen und Echtzeit-Anpassungen des Testprozesses vornehmen können. TENCOR ASET F 5 X nutzt fortschrittliche Mikroskopietechniken, wie Elektronenmikroskopie, sowie konventionelle optische Bildgebung, um ein Bild der Testprobe zu erstellen. Die Mikroskopietechniken liefern detaillierte Informationen über die Eigenschaften der Probe, während die optische Bildgebung es den Testern ermöglicht, die Eigenschaften der Probe auf nicht-invasive Weise zu messen. Dies ermöglicht eine effiziente Möglichkeit, genaue Messwerte an einer Vielzahl von Parametern innerhalb des Testwafers zu sammeln. Die Ausrüstung ist sehr robust und zuverlässig ausgelegt, was einen hohen Durchsatz an Tests und genaue Ergebnisse ermöglicht. Das System ist auch für hohe Leistung konzipiert, ermöglicht hochauflösende Messungen und verbesserte Genauigkeit. Dieses Gerät ist eine ideale Lösung für Halbleiter- und Elektroniktests und liefert schnelle, zuverlässige und präzise Daten für eine Vielzahl von Waferanwendungen.
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