Gebraucht KLA / TENCOR ATI I Surfscan #9292752 zu verkaufen

KLA/TENCOR ATI I Surfscan ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik, die bei der Herstellung von integrierten Schaltungen und Halbleiterbauelementen verwendet wird. Es ist ein automatisiertes Oberflächenfehler-Inspektionssystem, das hochpräzise und zuverlässig ist und mikroskopische Defekte in Wafern und Nanostrukturen erkennen kann. Das Gerät wurde entwickelt, um zwei grundlegende Operationen durchzuführen: Oberflächenscannen und Messtechnik. Bei der Oberflächenabtastung wird eine Diagnose der Waferoberfläche durchgeführt, um etwaige Oberflächenfehler auf dem Wafer zu identifizieren. Die Maschine ist mit einem speziellen Objektiv und Beleuchtungswerkzeug ausgestattet, mit dem sie mikroskopische Defekte auf der Waferoberfläche erkennen kann. Dies ermöglicht es ihm, Unvollkommenheiten zu identifizieren, einschließlich Kratzer, Oberflächenpartikel und andere Merkmale, die mit dem bloßen Auge unsichtbar sind. Messtechnik ist der Prozess der Messung der Eigenschaften eines Wafers und zugehöriger Gerätekomponenten. Mit KLA ATI I Surfscan können Bediener eine Vielzahl von Messparametern messen, einschließlich Breite, Länge, Auslenkung, Neigung, Profil und Dicke. Erweiterte Funktionen des Asset ermöglichen es den Betreibern, ganze Wafer und 3D-Nanostrukturen mit beispielloser Genauigkeit zu messen. Zusätzlich zu den bildgebenden und messtechnischen Funktionen wurde das Modell entwickelt, um Datenanalyse- und Berichtsfunktionen bereitzustellen. Daten aus Scan- und Messtechnik-Prozessen können an externe Datenbanken übertragen oder zur weiteren Analyse in den Geräten gesammelt werden. Dies hilft den Betreibern, umfassende Berichte über den Zustand und die Qualität des Wafers zu erstellen. Bediener können auch benutzerdefinierte Berichte und Diagramme erstellen, um Trends und Anomalien in ihren Messdaten zu identifizieren. Insgesamt ist TENCOR ATI I Surfscan ein unschätzbares Werkzeug für die Herstellung von Wafern und Halbleiterbauelementen. Es kann Anwendern helfen, mikroskopische Defekte zu identifizieren, Geräteeigenschaften zu messen und Daten für Berichtszwecke zu analysieren. Durch die Nutzung dieses Systems können Betreiber ihre Prozesse für mehr Effizienz und Qualitätssicherung optimieren.