Gebraucht KLA / TENCOR Candela 6100 #293597433 zu verkaufen

KLA/TENCOR Candela 6100 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik zur Messung der elektrischen Eigenschaften von Wafern mit höchster Genauigkeit und Durchsatz. Die fortschrittliche Optik, fortschrittliche Automatisierung und flexible Plattform des Systems machen es zur idealen Wahl für Hochdurchsatz-Tests mit hoher Präzision in einer Vielzahl von Halbleiterherstellungsprozessen. KLA Candela 6100 ist mit einer 5-achsigen Positionierstufe für genaue Waferbewegung ausgestattet. Die integrierte Messtechnik-Maschine des Geräts kann Funktionen bis zu 1 μ m messen. Fortschrittliche Muster-Matching-Algorithmen, hochgenaue automatisierte Steuerungen und integrierte Bildanalysefunktionen ermöglichen eine schnelle Wafer-Charakterisierung und Mustererkennung. Darüber hinaus kann sich das Werkzeug an eine Vielzahl von Wafergrößen, -typen und -dicken anpassen. Das Asset bietet eine Reihe von Testparametern, wie Kontaktwiderstand, kritische Dimension, Strom-Spannungs-Eigenschaften, Tonhöhe und Photoresistivität. Es bietet auch mehrere Testmodi und Algorithmen, um eine Vielzahl von Wafer-Topographien zu testen. Seine hochauflösende Optik bietet ein umfangreiches Sichtfeld, das bis zu 128 Sonden pro Wafer ermöglicht. Das Modell wird von einem hochqualitativen DSP (Digital Signal Processor) mit einer hochmodernen ASIC-basierten Steuerungsarchitektur angetrieben, die eine verbesserte Genauigkeit und Geschwindigkeit bietet. Es ist mit einer kompletten Suite von Echtzeitdiagnosen, Alarmen und Alarmen ausgestattet, um eine optimale Leistung zu gewährleisten. Die Benutzeroberfläche ist einfach und intuitiv und ermöglicht eine schnelle Einrichtung und Bedienung. Die benutzerfreundliche Windows-basierte Steuerungssoftware ermöglicht den Zugriff auf Parameter, Daten und Analyseergebnisse. Zur Ausstattung gehört auch ein integriertes Kalibrier- und Qualifizierungspaket, das eine wiederholbare Wafer-Prüfgenauigkeit gewährleistet. TENCOR Candela 6100 ist ein fortschrittliches Wafer-Prüf- und Messsystem, das für genaue Messungen mit hohem Durchsatz in einer Vielzahl von Halbleiterherstellungsprozessen entwickelt wurde. Seine flexible Plattform, fortschrittliche Optik und fortschrittliche Automatisierung sorgen für höchste Genauigkeit und Leistung. Die intuitive Benutzeroberfläche des Geräts und der leistungsstarke DSP bieten eine zuverlässige und umfassende Lösung für anspruchsvolle Wafer-Testanwendungen.