Gebraucht KLA / TENCOR Candela 6100 #293597435 zu verkaufen

KLA/TENCOR Candela 6100 Wafer Prüf- und Messtechnik Ausrüstung ist ein Werkzeug in der Halbleiterherstellung Prozess verwendet, um die elektrischen Eigenschaften der integrierten Schaltungen zu messen. Es bietet einen automatisierten Wafer-Test- und Messtechnik-Prozess mit hohem Durchsatz, der eine reduzierte Gesamtzykluszeit und eine verbesserte Testgeschwindigkeit und -genauigkeit bietet. Die Hauptkomponenten des Systems sind: On-Wafer Messkopf, Messelektronik POD (MEP), Carrier-based Measurement Unit (CMS) und Drittanbieter-Automatisierungsoberteil. Der On-Wafer-Messkopf ist der Teil der Maschine, der physikalisch mit den Wafern zusammenwirkt, um die elektrischen Eigenschaften zu messen. Dazu gehören Sonden, die während des Messvorgangs gehalten werden, um sicherzustellen, dass der Wafer für die anzuwendenden Prüfungen ordnungsgemäß positioniert ist. Der Messelektronik-POD ist das Hauptgerät, das in einer kontrollierten Umgebung arbeitet, Daten aus dem Messkopf des On-Wafers sammelt, filtert und analysiert. Die Carrier-basierte Messmaschine integriert derweil Mess- und Testergebnisse mehrerer Wafer während desselben Zyklus und liefert Datenvergleiche und -analysen, die Hersteller dabei unterstützen, ihren Prozess zu optimieren. Schließlich ermöglichen die Drittanbieter-Automatisierungsoberteile, wie Semiconductor Accelerator, es Herstellern, KLA Candela 6100 in den gesamten Produktionsprozess zu integrieren, um die Effizienz zu maximieren. Das Tool wurde entwickelt, um hervorragende Testgeschwindigkeit und Genauigkeit zu liefern, mit Funktionen wie erweiterte Zeitmessungen, aktive Geräuschunterdrückung, ultra-niedrige Spannungsregelung, niedrige Stromcharakterisierung, fortschrittliche geometrische Analyse und Hochgeschwindigkeitsvergleiche. Es ist auch für erhöhte Gerätetests optimiert, einschließlich Hochfrequenz und digitale Geräte. Damit ist es ein ideales Werkzeug zur Identifizierung und Sicherstellung von Ausbeute und Prozesssteuerung in der Halbleiterherstellung und Chipherstellung. TENCOR Candela 6100 ist ein vielseitiges und skalierbares Asset, ideal für eine breite Palette von Wafergrößen und -technologien. Die eingebaute Kapazität für automatisierte Tests und kontinuierliche Datenerfassung reduziert die Anzahl der Testzyklen und ermöglicht eine schnellere Produktoptimierung. Darüber hinaus erhöht der modulare Aufbau die Zuverlässigkeit und Skalierbarkeit und dient als Plattform für zukünftige Technologieanforderungen. Zusammenfassend ist Candela 6100 ein leistungsstarkes Wafer-Test- und Metrologiemodell, das zur Optimierung des Wafer-Herstellungsprozesses entwickelt wurde. Es bietet schnelle und präzise Messungen in einer breiten Palette von Wafergrößen und -technologien und ist ein zuverlässiges Werkzeug zur Steigerung der Ertrags- und Prozesskontrolle. Die fortschrittlichen Eigenschaften, der hohe Durchsatz und die Skalierbarkeit machen es zu einem zuverlässigen und wertvollen Werkzeug in der Halbleiterproduktion.