Gebraucht KLA / TENCOR Candela 8600 #9311388 zu verkaufen

KLA/TENCOR Candela 8600 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für Halbleiterherstellungsanwendungen. Das System nutzt eine fortschrittliche Optikeinheit, um hochauflösende Hochgeschwindigkeitsmessungen zu ermöglichen. Es ist in der Lage, schnelle Fehlererkennung und Klassifizierung auf der Vorderseite und Rückseite Wafer Oberflächen. Die Maschine verfügt über eine 10-achsige, computergesteuerte Waferstufe zur Handhabung einer Vielzahl von Waferdurchmessern und -typen. Es ist mit einer hochauflösenden Kamera (2,3 Megapixel) ausgestattet, die ein flächiges Scannen der Wafer mit bis zu 400 x 400 nm Auflösung ermöglicht. Die Inspektionsgeschwindigkeit ist von langsam bis ultraschnell einstellbar und die Messungen sind mit hoher Genauigkeit und Wiederholbarkeit versehen. KLA Candela 8600 wird von KLA ultraschnellem C8T-Bildgebungsprozessor angetrieben, der in der Lage ist, 4-dimensionale Inline-Mikroskopie, Drahtgitter-Bildgebung und Elektronenstrahl-Technologie zu kombinieren. Dadurch kann das Werkzeug Fehler mit unglaublichen Geschwindigkeiten erkennen und klassifizieren. Die fortschrittlichen bildgebenden Algorithmen des C8T Prozessors ermöglichen auch eine breite Palette von automatisierten und manuellen Analysewerkzeugen, einschließlich Fehlerhöhen-Mapping, 2-dimensionale morphologische Analyse und herkömmliche elektrische Tests. Die Anlage kann mit anderen Messtechnik-Systemen von TENCOR verbunden werden, um eine umfassende End-to-End-Wafer-Test- und Inspektionslösung bereitzustellen. Es verfügt auch über eine intuitive Benutzeroberfläche für Bedienkomfort und optimierten Workflow. Darüber hinaus bietet das Modell eine breite Palette fortschrittlicher Optik- und Bildgebungsfunktionen. Dazu gehören automatisierte Fehlererkennungsalgorithmen, ein Lichtfeld-Tiefenbereichsmonitor und die Möglichkeit, jederzeit bis zu 60 Gigapixel-Bilder zu speichern und zu analysieren. Das Gerät bietet zudem eine beeindruckend große Probengrößenabdeckung (bis zu 5 Zoll), die es ideal für die Inspektion von Halbleiterscheiben, Solarzellen und anderen großen Substraten macht. Insgesamt ist das TENCOR Candela 8600 Wafer-Prüf- und Messtechnik-System ein beeindruckendes Werkzeug für die Inspektion und Analyse der Halbleiterherstellung. Es ist mit einem leistungsstarken Prozessor, einer erweiterten Optikeinheit und einer benutzerfreundlichen Oberfläche ausgestattet und bietet hochgenaue, wiederholbare Messungen mit einer beeindruckenden Geschwindigkeit.