Gebraucht KLA / TENCOR Candela C2 #9277067 zu verkaufen

KLA/TENCOR Candela C2 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die Wafer-Scan-, Test- und Inspektions- und Bildgebungsfunktionen in einer integrierten Plattform kombiniert. Das KLA Candela C2 System bietet optimierte Test- und Messlösungen für die Herstellung von Halbleiterbauelementen. TENCOR C2 Einheit ist entworfen, um die anspruchsvollen Anforderungen der Halbleiterbauelement Fertigungsindustrie zu erfüllen. Seine hochpräzisen Prüf- und Messtechnik-Fähigkeiten gewährleisten eine genaue und zuverlässige Charakterisierung der Wafereigenschaften wie elektrische und optische Eigenschaften, Fehlerdichte und Topographie. Es besteht aus einem automatisierten Handler, einem automatisierten Wafer-Prober, einem optischen Mikroskop und einem Rasterelektronenmikroskop, die alle in der Lage sind, hochpräzise Messungen in einer Vielzahl von Wafer-Anwendungen durchzuführen. Der automatisierte Wafer-Prober ist in der Lage, bis zu 38 Wafer nacheinander zu testen und bietet eine breite Palette von Sondierungsfunktionen. Das optische Mikroskop in TENCOR Candela C2 Maschine bietet hochauflösende bildgebende Fähigkeit mit fünf verschiedenen bildgebenden Modi, die für Defektmapping und Prozessqualitätskontrolle verwendet werden können. Das integrierte Rasterelektronenmikroskop ermöglicht eine präzise Messung von Wafern bis zu einer Auflösung von 0,1 Mikron. Es enthält auch ein energiedispersives Röntgenspektrometer (EDS), das es dem Werkzeug ermöglicht, die Materialzusammensetzung zu analysieren. Schließlich ist die Anlage mit einem Satz von Messtechnik-Plattformen, wie einem Interferometer, einem Streumesser und einem Oberflächenprofiler verbunden, die eine detailliertere Sondierung von Gerätestrukturen ermöglichen. C2 ist bekannt für seine Zuverlässigkeit und hohe Leistung sowie seine Fähigkeit, sich an sich ändernde Prüf- und Messtechnikanforderungen anzupassen. Es profitiert auch von mehreren Funktionen wie Barcode-Wafer-Tracking, automatisierte Datenverarbeitung und Fernzugriff, so dass Benutzer ihre Operationen von jedem Ort aus überwachen können. Insgesamt ist das Modell KLA/TENCOR C2 eine beeindruckende All-in-One-Wafer-Prüf- und Messtechnik, die Wafereigenschaften präzise und zuverlässig charakterisieren kann. Das integrierte Design, die hohe Präzision und das breite Spektrum an Prüf- und Messtechnik machen es zu einer idealen Wahl für Halbleiterbauelementehersteller.