Gebraucht KLA / TENCOR Candela C2 #96305 zu verkaufen

KLA/TENCOR Candela C2 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die sowohl in der Prozessentwicklung als auch in der Produktionssteuerung eingesetzt wird. Es verfügt über eine hochentwickelte, leistungsstarke Fähigkeit, die es zum weltweit effizientesten Werkzeug für die Messung von Dünnschichtdicke und Musterparametern auf Wafern macht. Es bietet präzise, schnelle Messungen sowohl von Dünnschicht- als auch von Musterparametern auf Waferoberflächen. Das KLA Candela C2 System verfügt über eine hochmoderne, vollautomatische Einheit, die berührungslose und direkte Kontaktmessungen durchführt. Es kombiniert fortschrittliche optische Systeme mit fortschrittlicher Software, um überlegene, hochauflösende Dünnfilm- und Musterparameter-Messfähigkeiten zu bieten. Mit TENCOR C2 ist es möglich, eine breite Palette von Wafer-Topographieparametern wie Film- und Musterhöhen, Oberfläche, Winkel, Schritthöhen und vieles mehr zu messen. Das Instrument bietet zudem einen hohen Dynamikbereich für eine Reihe von Prozessempfindlichkeiten. Seine präzisen messtechnischen Fähigkeiten ermöglichen es, verschiedene Dünnschichteigenschaften und Musterparameter genau zu messen. Candela C2 bietet zudem eine hervorragende Prozessüberwachung und -kontrolle, die es Anwendern ermöglicht, Prozessvariationen zu identifizieren und den Prozess feinabzustimmen. Die Maschine verfügt zudem über Hochgeschwindigkeits- und präzise Datenerfassungsfunktionen. Es ist mit einem leistungsstarken Softwarepaket ausgestattet, das leicht hochauflösende Messungen erfasst und verarbeitet. Die Software ist in der Lage, präzise Messungen zu liefern sowie die Ergebnisse zu vergleichen und zu analysieren. KLA C2 kommt auch mit einer Reihe von benutzerfreundlichen Schnittstellen. Es ist sowohl mit Windows als auch mit Linux kompatibel und ist auch in mehreren Sprachen verfügbar. Zusammenfassend ist C2 ein All-in-One-Wafer-Prüf- und Messtechnikwerkzeug, das präzise und schnelle Messungen mehrerer Dünnschicht- oder Musterparameter auf Waferoberflächen ermöglicht. Dank seiner erweiterten Funktionen können Benutzer Prozessvarianten identifizieren und den Prozess feinabstimmen. Die benutzerfreundlichen Schnittstellen und Hochleistungsdatenerfassungsfähigkeiten machen diesen Vermögenswert eine ideale Wahl für die Oblatenprüfung und Metrologieanwendungen.