Gebraucht KLA / TENCOR Candela CS10 #293637902 zu verkaufen

Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.

ID: 293637902
Surface inspection system.
KLA/TENCOR Candela CS10 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die entwickelt wurde, um außergewöhnliche Genauigkeit und hohen Durchsatz für Halbleiteranwendungen zu bieten. Das System ist in der Lage, Wafer bis 300mm zu handhaben, und es bietet simultane Kontakt- und berührungslose Messungen sowie automatisierte Datenanalyse und Berichterstattung. Das Gerät verfügt über ein hochauflösendes optisches Mikroskop mit einer automatisierten automatischen Fokus- und Wellenlängenkalibriermaschine, mit der Benutzer kristalline Defekte überprüfen, die Gesamtdickenvariation messen und über Topographie bestimmen können. Der 4-Port-Profiler mit zwei Kopfflächen ist in der Lage, Zwischenschichten, hohe Seitenverhältnisse und schmale, tiefe Durchgangslöcher zu erfassen. Darüber hinaus umfasst das Asset zwei Partikelsensoren, zwei 3D-Farbmapping-Sensoren und zwei Streuinstrumente, mit denen Anwender Oberflächengüten, Teilchenstreitigkeiten und Rauheit der Kanten schnell und genau messen und analysieren können. Das Modell ist hochgradig konfigurierbar und kann auf spezifische Anwendungen und Kundenanforderungen zugeschnitten werden. Es enthält auch eine Reihe von Automatisierungsmerkmalen, wie eine integrierte automatische Geräteerkennung, einen patentierten Düsenreiniger und ein 24/7-Überwachungsmerkmal. Darüber hinaus unterstützt das System eine Reihe fortschrittlicher Algorithmen, die es ermöglichen, die vielen nichtlinearen Effekte in modernen lithographischen Prozessen genau zu charakterisieren. Dadurch können Anwender sicherstellen, dass ihre Wafer innerhalb der Spezifikation liegen und ihren Anforderungen konsequent entsprechen. Die KLA CANDELA CS-10 bietet durch ihr ausgeklügeltes Design eine Reihe von Vorteilen gegenüber anderen Wafer-Prüf- und Messtechnik-Systemen. Es ist hochgenau und ermöglicht es Benutzern, selbst kleinste Variationen der Wafereigenschaften zu messen und zu analysieren. Es bietet auch einen hohen Durchsatz und ermöglicht eine schnelle und zuverlässige Wafer-Charakterisierung. Darüber hinaus ist das Gerät hochgradig konfigurierbar und enthält viele fortschrittliche und automatisierte Funktionen, um sicherzustellen, dass Benutzer das Beste aus ihrer Test- und Messtechnik-Maschine herausholen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor