Gebraucht KLA / TENCOR Candela CS10 #9410414 zu verkaufen

ID: 9410414
Surface inspection system.
KLA/TENCOR Candela CS10 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die entwickelt wurde, um beste Leistung und Genauigkeit in der Halbleiterprüfung und -herstellung zu bieten. Das System verfügt über mehrere Sensoren, ein optisches Mikroskop und einen Bildprozessor, um detaillierte Bilder und Messungen von Wafern und anderen Halbleitermaterialien bereitzustellen. KLA CANDELA CS-10 ist in der Lage, Daten von Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 200 mm zu sammeln und zu analysieren. Herzstück der Einheit ist eine Sensoranordnung mit vier spektralselektiven Laserinterferometern und zwei CCD-Kameras. Jeder Sensor wird zusammen mit einer einzigartigen mechanischen Stufe verwendet, um spektrale Daten aus dem Wafer zu erfassen und zu analysieren. Darüber hinaus umfasst die Maschine auch ein Mikroskopmodul mit einem 5x optischen Zoom, einem Sichtfeld von bis zu vierundzwanzig Mikrometern und einer Reihe von Linsenbeschichtungen für eine genaue Bildgebung. Das Mikroskopmodul verfügt über einen integrierten Strahlleiter für Photonenübertragungsmessungen, der genaue Oberflächenmessungen und Bildgebung ermöglicht. Ein leistungsfähiger Bildprozessor kombiniert optische und spektrale Daten, um hochauflösende Bilder und Messungen der Waferoberflächenmerkmale bereitzustellen. TENCOR CANDELA CS 10 bietet einen umfassenden Satz von Werkzeugen und Daten, um die Qualitätskontrolle in der Waferprüfung und -herstellung sicherzustellen. Die Sensoren und der Bildprozessor des Werkzeugs messen die Abmessungen und die Oberflächenqualität des Wafers genau. Es kann auch Fehler und andere Wafer-Eigenschaften, wie Risse und Kratzer zu erkennen. Darüber hinaus bietet TENCOR Candela CS10 umfassende Datenanalyse- und Berichtsfunktionen, um sicherzustellen, dass die Produktqualität erhalten bleibt. Insgesamt ist CANDELA CS 10 ein fortschrittliches Asset für Wafertests und Messtechnik, das hohe Genauigkeit und Leistung bietet. Mit mehreren Sensoren und einem fortschrittlichen Bildprozessor ist das Modell in der Lage, detaillierte Bilder und Messungen von Wafern und anderen Halbleitermaterialien bereitzustellen. Darüber hinaus stellen die umfassende Datenanalyse und Berichtsfähigkeit der Geräte sicher, dass die Produktqualität erhalten bleibt.
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