Gebraucht KLA / TENCOR D-120 #9119137 zu verkaufen

KLA/TENCOR D-120 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die entwickelt wurde, um genaue Informationen über Gerätestruktur und elektrische Leistung auf einer breiten Palette von Materialien bereitzustellen, einschließlich III-V, Si, Ge und Compound-Halbleitern. Das System bietet multitechnische Funktionen mit manuellen und automatisierten Testfunktionen sowie mehrere bildgebende Funktionen, darunter hochauflösende, infrarote und sichtbare spektroskopische Optionen. KLA D-120 unit ist ein vielseitiges Mess- und Inspektionswerkzeug für Wafer und bietet sowohl manuelle als auch automatische Tests. Unter Verwendung hochpräziser optischer, elektrooptischer und videometrischer Sensoren kann das Instrument eine Vielzahl von elektrischen und physikalischen Messungen an einer Vielzahl von Materialien durchführen. Die Maschine verfügt über ein integriertes, computergesteuertes Subsystem, das erweiterte Wafer-Messfähigkeiten bereitstellt, wie z. B. präzise wiederholbare Messungen innerhalb einer Nanometerwaage. Das Tool ist mit einer Vielzahl von fortschrittlichen Technologien ausgestattet, um genaue Test- und Messergebnisse zu gewährleisten. Es ist in der Lage, Kontaktspannungsmessungen, temperaturabhängige Widerstandsmessungen sowie Rasterelektronenmikroskopie und zugehörige energiedispersive Spektroskopieanalyse durchzuführen. Darüber hinaus bietet TENCOR D-120 die Funktionalität zur nanoskaligen Musterausrichtung und Bildgebung sowie zum Scannen von Bildern im Mikrometermaßstab mit hoher räumlicher Auflösung. D-120 Wafer-Test- und Messtechnik-Asset bietet ein Touchscreen-basiertes Steuerungsmodell, das einen effizienten Betrieb ermöglicht. Das Gerät wird mit einer gebündelten KLA-Software geliefert, mit der Benutzer auf eine Vielzahl von Funktionen zugreifen können, wie Kontaktdruck für die Fehlerbehebung von Geräten, umfassendes 2-dimensionales Wafer-Mapping sowie eine Wafer-Tracking-Datenbank. KLA/TENCOR D-120 ist ein umfassendes Test- und Messtechnik-System, das reichlich In-Prozess- und Post-Process-Analysefunktionen bietet. Durch die Nutzung fortschrittlicher Technologien wie Rasterelektronenmikroskopie und Kontaktspannungsmessungen sowie umfassender Datenerfassungsfunktionen und einer intuitiven Softwareschnittstelle bietet dieses Gerät hochgenaue Wafermessungen und Inspektionslösungen für Leistung, Zuverlässigkeit und Design.