Gebraucht KLA / TENCOR F5x #9270988 zu verkaufen

KLA / TENCOR F5x
ID: 9270988
Film thickness measurement system, 12" 2003 vintage.
KLA/TENCOR F5x ist eine leistungsstarke Wafer-Prüf- und Messtechnik, die Präzisionsleistung von Halbleitern und anderen Wafer-basierten Komponenten ermöglicht. Das System basiert auf einer Reihe von Kerntechnologien und Komponenten, darunter ein patentierter Hochdurchsatz-Servofeeder, eine optische Messtechnik, Hochfrequenz-Lasermessungen und fortschrittliche Software zur Mustererkennung und Fehlererkennung. Herzstück der KLA F5x ist eine leistungsstarke Optikeinheit, die automatisch Tausende von Chips in Sekunden untersucht. Diese Maschine verfügt über ein großes, leichtes Linsenarray mit einer hohen numerischen Apertur und thermischer Stabilisierung, was TENCOR F 5 X einen überlegenen Durchsatz von bis zu 250 mm Durchmesser verleiht. Das Werkzeug verfügt außerdem über eine Ultraschallerkennung, die eine zerstörungsfreie Fehleranalyse bis zum Sub-Mikron-Niveau ermöglicht. Darüber hinaus enthält KLA/TENCOR F 5 X einen speziell entwickelten Cantilever-Wafer-Inspektionskopf, der den Wafer durch schnelle Neupositionierung der Wafer-Plattform abtastet, um die Oberflächenhöhe und die Fehlerstelle mit Nanometergenauigkeit genau zu messen. Der Prüfkopf ermöglicht es KLA F 5 X auch, Fehler wie Gruben und Gruben in der Waferoberfläche genau zu identifizieren. Das Asset nutzt fortschrittliche Visions- und Bildsegmentierungstechnologie, um die während des Inspektionsprozesses aufgenommenen Bilder zu analysieren. Diese Technologie hilft, Muster im Wafer zu identifizieren und hilft, Fehler, wie offene und Kurzschlüsse, auch auf mikroskopischer Ebene zu erkennen. Schließlich nutzt TENCOR F5x proprietäre Software, um mit dem Computermodell zu interagieren und Ergebnisse zu analysieren, um umfassende Berichte zu erstellen. Insgesamt ist F 5 X eine fortschrittliche, hochmoderne Ausrüstung, die hochpräzise Prüf- und Messtechnikfunktionen für Wafer-basierte Komponenten bietet. Es ist überlegenes optisches System und Inspektionskopf liefern Nanometer Präzision für die Fehlererkennung, während seine fortschrittliche Software vollständige Berichte und Analyse von Waferdaten bietet. F5x bietet Ingenieuren und Halbleiterherstellern eine unschätzbare Ressource für die Entwicklung und Prüfung fortschrittlicher Komponenten.
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