Gebraucht KLA / TENCOR Flexus 2320 #293762507 zu verkaufen

KLA/TENCOR Flexus 2320 ist eine anspruchsvolle Wafer-Prüf- und Messtechnik für die Halbleiterherstellung. Es bietet Anwendern die Möglichkeit, die Qualität ihrer Wafermaterialien mit minimalem manuellen Eingriff schnell, präzise und kostengünstig zu bewerten. KLA Flexus 2320 verfügt über fortschrittliche Sicht- und Erkennungssysteme, bestehend aus zwei IR-Kameras, zwei photometrischen Sensoren und vier Laserköpfen. Ein APR-Algorithmus (Adaptive Pattern Recognition) überwacht kontinuierlich die Fehlererkennungsgenauigkeit und ermöglicht erweiterte Klassifizierungsmöglichkeiten, die für die Erkennung von Waferdefekten von entscheidender Bedeutung sind. Mit den fortschrittlichen Optik- und Bildgebungssystemen ist TENCOR Flexus 2320 in der Lage, Fehler mit einem Durchmesser von bis zu 140 nm mit maximaler Genauigkeit zu identifizieren und zu messen. Flexus 2320 ist auch in der Lage, eine breite Palette von Wafer-Pegel Messungen und Analysen zu produzieren. Sein modernes optisches System kann Formgrößen, Spaltgrößen, Formänderungen (Wobble) und unregelmäßige treppenförmige Muster (oder Stufen) auf der Oberfläche des Wafers genau messen. Das Gerät analysiert auch auf Überlagerung und kritische Dimension Gleichmäßigkeit, Partikel und Verunreinigungen, und Schichtdicke. Neben Messungen und Analysen bietet KLA/TENCOR Flexus 2320 erweiterte Automatisierungsfunktionen, die Wafertests und Messtechnik optimieren. Die Maschine verfügt über ein voll integriertes Software-Tool mit Point-and-Click-Benutzeroberfläche und automatisierten Wafer-Handhabungsfunktionen. Dies ermöglicht eine automatisierte Messung großer Wafer-Chargen mit minimalem Bedienereingriff. KLA Flexus 2320 ist ein leistungsfähiges und vielseitiges Wafer-Test- und Messtechnik-Asset, das es zu einem unschätzbaren Asset für Halbleiterhersteller macht. Es ist anspruchsvolle Optik, fortschrittliche Bildgebungs- und Detektionssysteme und umfassende Mess- und Analysefunktionen machen es zur perfekten Wahl für eine zuverlässige, automatisierte Qualitätsbewertung von Halbleiterscheiben.