Gebraucht KLA / TENCOR Flexus F2320 #293751864 zu verkaufen

KLA/TENCOR Flexus F2320 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik für die industrielle Qualitätskontrolle bei der Herstellung von Halbleitern. Es ermöglicht Herstellern, die Eigenschaften jedes Chips während der Herstellung zu testen und wertvolle Einblicke in die Produktqualität zu geben, bevor die Chips in den Verpackungsprozess eintreten. KLA Flexus F2320 misst eine breite Palette von elektrischen, physikalischen und optischen Eigenschaften von Produkten in der hochvolumigen Halbleiterherstellung. Es ist in der Lage, auch kleinste Mikromerkmale in einer integrierten Schaltung abzubilden und Parameter wie minimalen Platz und Merkmalsgröße in Echtzeit zu messen. Die erweiterte Bildgebungsfähigkeit des Systems wird durch seinen Beam Controlled Scanner (BCS) erreicht, der die Strahlpositionierung, -programmierung und -größe steuert. Dies sorgt für minimale Aberrationen bei der Erkennung selbst kompliziertester mikroelektronischer Merkmale. Mit dem BCS kann das Untersuchungsobjekt bis zu 900 Mal vergrößert werden, um Miniskülkomponenten zu betrachten und zu messen. TENCOR Flexus F2320 bietet zudem zuverlässige Genauigkeit und Wiederholbarkeit. Seine fortschrittlichen Kalibrierkorrekturalgorithmen und leistungsstarken Bildausrichtungsverfahren sorgen für präzise und zuverlässige Messungen. Das Gerät ist mit einer Lasermodus-Funktion ausgestattet, mit der Hersteller die Parameter lasergeätzter Funktionen wie Antireflexschichten und Schutzschichten auf Chips genau messen können. Die Funktion FE-CV (Focusing Error Control and Verification) erhöht die Genauigkeit weiter, indem sie eine klare, wellenformbasierte Fokuskontrolle auf Chipbildern von bis zu 16 Pins bietet. Flexus F2320 ist eine effiziente Maschine, die an eine Vielzahl von Produktionsumgebungen angepasst und konfiguriert werden kann. Es bietet Echtzeit-Monitoring und Feedback während des Produktionsprozesses für verbesserte Erträge und Qualitätssicherung. Darüber hinaus ermöglicht die VibroChrome-Technologie den Betreibern von Produktionsanlagen, Mikrofehler und Kontaminationen wie Kratzer, Späne und Partikel in den Wafern sofort zu erkennen, um ein fehlerfreies Produkt zu gewährleisten. Insgesamt stellt KLA/TENCOR Flexus F2320 ein fortschrittliches, zuverlässiges und effizientes Wafer-Prüf- und Messtechnikwerkzeug dar, das alle Mikromerkmale und Fehler auf Chip-Bildern genau messen kann, um höchste Produktionsqualität zu garantieren.