Gebraucht KLA / TENCOR FLX-2320 #9036651 zu verkaufen
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ID: 9036651
Wafergröße: 8"
Weinlese: 1994
Stress Measurement System, 8"
1994 vintage.
KLA/TENCOR FLX-2320 prüft, testet und messtechnisiert 300mm Wafer, mit der Fähigkeit, genaue 2D-Bilder und 3D-Konturkarten zur Verfügung zu stellen. KLA FLX-2320 ist eine fortschrittliche Ausrüstung, die mit fortschrittlicher Prozesssteuerungsfunktion arbeitet und schnelle und zuverlässige Entscheidungen basierend auf den von ihr erfassten und inspizierten Daten ermöglicht. Das System führt Wafer-Analysen und Tiefenmessungen schnell durch, mit einem Prozess, der hohe Werte und detaillierte Auflösung beinhaltet. Darüber hinaus ermöglicht das Gerät eine schnelle, genaue und wiederholbare Messung der elektrischen Eigenschaften eines Wafers. TENCOR FLX 2320 besteht aus mehreren Komponenten, mit denen es seine verschiedenen Funktionen ausführen kann. Dazu gehört auch der Scanner, der die Bilder der Chips auf dem Wafer schnell verarbeitet; die Messtechnikmaschine, die die elektrischen Eigenschaften des Wafers messen und überprüfen kann; und das Fehlerortungswerkzeug, das in der Lage ist, alle auf der Waferoberfläche gefundenen Fehler zu identifizieren, zu quantifizieren und zu klassifizieren. Darüber hinaus ist das Asset in der Lage, die Form des Wafers zu analysieren und zu bestätigen, dass es der Konstruktionsspezifikation entspricht und jeden Formfaktor oder strukturelle Fehler erkennen kann. Schließlich ist FLX 2320 mit einem Durchsatzmessmodell ausgestattet, das schnelle, zuverlässige und wiederholbare Durchsatzmessungen ermöglicht und eine detaillierte Prozessüberwachung ermöglicht. Insgesamt ist KLA/TENCOR FLX 2320 ein leistungsfähiges und zuverlässiges Werkzeug zur Verbesserung der Qualität einer Vielzahl von 300mm Waferinspektionsprozessen. Es ist in der Lage, klare und detaillierte Bilder zu liefern, elektrische Eigenschaften zu messen und zu überprüfen, Formen zu analysieren und den Durchsatz zu messen, alles in einer schnellen und wiederholbaren Weise. Darüber hinaus wurde es mit fortschrittlicher Prozesskontrolle und Zuverlässigkeit konzipiert, so dass es schnelle und genaue Entscheidungen auf der Grundlage der von ihm inspizierten und erfassten Daten liefern kann.
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