Gebraucht KLA / TENCOR FLX-2320 #9292632 zu verkaufen

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ID: 9292632
Weinlese: 1993
Film stress measurement system 1993 vintage.
KLA/TENCOR FLX-2320 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die mit dem Ziel entwickelt wurde, IC-Fertigungsoperationen durch fortschrittliche messtechnische Leistung, genaue Daten und Zuverlässigkeit zu verbessern. KLA FLX-2320 verfügt über eine einzigartige optische Wafermessarchitektur, die Geschwindigkeit und Genauigkeit auf kompakter Fläche liefert. Diese Architektur vereinigt ehemalige Autofokusfähigkeiten, HochleistungsX-Laufwerkpositionierungstechnologie, hat Metrologiefunktionen automatisiert und hat CCD Bildaufbereitung von Sensoren vorgebracht. Die fortschrittlichen CCD-Bildgebungssensoren sind so konzipiert, dass sie hochauflösende und weiträumige Bildaufnahmefähigkeiten ermöglichen, sodass das System verschiedene Typen von Waferfunktionen gleichzeitig mit Genauigkeit und Wiederholbarkeit messen kann. TENCOR FLX 2320 verfügt auch über erweiterte einmalige Autofokus-Funktionen, die es dem Gerät ermöglichen, den Fokus des Wafers präzise und schnell anzupassen, was einen höheren Durchsatz des Wafermessprozesses ermöglicht. Zusätzlich sichert die HochleistungsX-Laufwerkpositionierungstechnologie schnelle, genaue und zufällige Bewegung der Oblatenbühne. TENCOR FLX-2320 Maschine ist mit robusten Automatisierungsfunktionen konzipiert, die langwierige Aufgaben bei der Auftragseinrichtung und Datenberichterstattung eliminieren und zu optimierten Operationen führen. Dieses Tool enthält auch eine interaktive PC-Workstation mit Windows-basierter Software, die eine einfache Bildschirmsteuerung über Tradeoff-Funktionen und Datenanalyse ermöglicht. Darüber hinaus bietet eine erweiterte Alarmfunktion auf Waferebene eine Echtzeit-Entscheidungsfindung für eine kontinuierliche Prozessoptimierung. KLA/TENCOR FLX 2320 Asset ist in der Lage, beliebig gemusterte Substrate, Displays und Substrate mit undurchsichtigen Schichten sowie 3D-Oberflächen und Strukturen zu messen. Darüber hinaus können Benutzer mit vollständig Offline-Wafer-Inspektionsmöglichkeiten Wafer inspizieren, ohne zusätzliche teure Geräte benötigen. Schließlich erfüllt das Modell Industriestandards, einschließlich SEMI und US Conformity Assurance Level 1 (CAL1). Zusammenfassend ist FLX 2320 eine leistungsstarke Wafer-Prüf- und Metrologie-Ausrüstung, die zur Verbesserung der IC-Fertigung eingesetzt werden kann. Es zeigt fortgeschrittene ehemalige Autofokusfähigkeiten, HochleistungsX-Laufwerkpositionierungstechnologie und CCD Bildaufbereitung von Sensoren, die eine Vielfalt von Oblateneigenschaften auf eine genaue und repeatable Weise messen können. Darüber hinaus bietet das System robuste Automatisierungsfunktionen, Windows-basierte Software und eine Wafer-Alarmfunktion, um den Betrieb weiter zu optimieren.
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