Gebraucht KLA / TENCOR FLX-2320A #293619108 zu verkaufen

KLA/TENCOR FLX-2320A ist eine automatisierte Wafer-Prüf- und Messtechnik für effiziente Messungen von Halbleiterwafersubstraten. Das System ist in der Lage, bis zu fünf Wafer gleichzeitig zu testen und Wafer-Level-Tests auf elektrische und optische Eigenschaften in Minuten durchzuführen. Das Gerät ist mit einer leistungsstarken Röntgenoptik-Maschine ausgestattet, die es ermöglicht, Schichtdicken, Dotierstoffkonzentrationen und Kristallorientierung von Oberflächen zu messen. Es verfügt auch über optische Elektronenemissionsmikroskopie (EEM), die Oberflächenmerkmale abbilden und elektrische Informationen tief in das Substrat liefern kann, um die Ursache des Fehlers genau zu diagnostizieren. Darüber hinaus ist das Tool mit mehreren Detektoren ausgestattet, einschließlich Lasern, Spektrometern und Sonden, die eine hochauflösende Bildgebung und Messungen der parametrischen On-Wafer-Leistung ermöglichen. KLA FLX 2320 A läuft auf einer intuitiven, benutzerfreundlichen Bedienoberfläche, wodurch Testergebnisse mit minimalem Aufwand einfach analysiert und gemeldet werden können. TENCOR- FLX-2320-A können Berichte in verschiedenen branchenüblichen Formaten erstellen und zusammenfassende und detaillierte Daten in benutzerdefinierten Formaten bereitstellen. Zusätzlich werden die generierten Berichte und Testergebnisse im Asset für zukünftige Nutzung und Vergleich gespeichert. FLX 2320 A unterstützt auch eine Vielzahl von Automatisierungsanwendungen, wie programmierbare Testgeräte, Bildverarbeitung und softwaregetriebene Werkzeugmaschinen. Das Modell ist SQL-konform und ermöglicht direkten Zugriff auf SEMI Standard Database (SSDB). TENCOR FLX 2320 A ist auch mit leistungsstarker Hardware wie einem Hochgeschwindigkeits-Dual-Core-Prozessor mit hoher Dichte und einem großen Speicher ausgestattet, der schnelle und genaue Wafertests und -messungen ermöglicht. Abschließend ist KLA FLX-2320A eine leistungsstarke Wafer-Prüf- und Messtechnik, die speziell für hochgenaue und wiederholbare Messungen entwickelt wurde. Das System ist in der Lage, eine breite Palette von Messungen durchzuführen, einschließlich Röntgenoptik, EEM, Laser, Spektrometer und Sonden, und unterstützt eine Vielzahl von Automatisierungsanwendungen. Dieses Gerät eignet sich ideal zum Testen von Halbleiterwafern und erleichtert die Datenanalyse, -berichterstattung und -speicherung mit seiner intuitiven Schnittstelle und der SQL-konformen Architektur.