Gebraucht KLA / TENCOR FLX-2320S #293609348 zu verkaufen

KLA / TENCOR FLX-2320S
ID: 293609348
Wafergröße: 8"
Stress measurement system, 8".
KLA/TENCOR FLX-2320S ist eine Spezialausrüstung für Wafertests und Messtechnik. Die KLA FLX 2320 S wurde als flexibles Hochdurchsatzsystem mit den neuesten technologischen Fähigkeiten entwickelt und kann die Leistung einer Vielzahl von Geräten und Anwendungen streng analysieren und messen. Herzstück von TENCOR FLX-2320-S ist das integrierte messtechnische Messtechnik-Subsystem, das eine Vielzahl von Sonden für elektrische und optische Wafertests anbietet. Dazu gehört die Fähigkeit, eine breite Palette von physikalischen Attributen wie Topographie, Signalintegrität, dielektrische Schichtdicken, Interkonnektivität und mechanische Eigenschaften zu messen. Darüber hinaus kann das messtechnische Messsubsystem auch komplexe Datensätze wie Topographiekarten für die Nachverarbeitungsanalyse erfassen. Zur Erfassung dieser Daten ist die KLA FLX-2320S mit hochauflösenden, rauscharmen Kameras mit fortschrittlichen Bildverarbeitungsalgorithmen ausgestattet. Diese Algorithmen ermöglichen es der Einheit, Merkmale auf der Mikro- und Nanometerskala mit beispielloser Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu messen. KLA/TENCOR FLX 2320 S verfügt zudem über eine anspruchsvolle Sichtmaschine mit automatisierten Fehlerinspektionsmöglichkeiten. Dieses Tool kann einen gesamten Wafer scannen, um Probleme mit der Form oder der Formgröße und -form sowie die Positions- und Orientierungsidentifikation der Form zu erkennen. Es kann auch auf Oberflächenfehler in Waferbeschichtungen oder Strukturen untersuchen. Neben diesen Funktionen umfasst KLA/TENCOR FLX-2320-S auch integrierte Analysefunktionen zur Analyse und Berichterstattung von Testergebnissen. Dies beinhaltet die Möglichkeit, umfassende Berichte für erweiterte Analysen zu erstellen, sowie grafische Ergebnisse für eine einfache Überprüfung von Prozessdaten. Insgesamt ist TENCOR FLX-2320S ein unschätzbares Werkzeug für die Entwicklung und Produktion moderner Halbleiterbauelemente und Substrattechnologien. Mit seiner Kombination aus umfassenden Test- und Messtechnik-Fähigkeiten bietet FLX-2320-S ein beispielloses Maß an Präzision und Detail für Wafer-Tests und -Analysen.
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