Gebraucht KLA / TENCOR FLX-2320S #293772551 zu verkaufen

KLA/TENCOR FLX-2320S ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für die Messung von Halbleiterwaferstrukturen, Komponenten und Partikeln mit modernster Detektions- und Bildgebungstechnologie entwickelt wurde. KLA FLX 2320 S wurde entwickelt, um präzise und genaue Prüfergebnisse für Wafer in einer Vielzahl von Produktanwendungen bereitzustellen. TENCOR FLX-2320-S verfügt über ein optisches Abbildungssystem mit hoher Geschwindigkeit und Nanometerauflösung mit einem 320-Meter-Sichtfeld und einer 110-Meter-Linse zur Inspektion kleiner Merkmale. Diese Einheit verwendet eine fortschrittliche optische Messtechnik, um kleine Unterschiede in Länge, Breite und Tiefe von Halbleiterstrukturen zu erkennen. Eine Vielzahl von Partikelkontrollwerkzeugen sind auch mit TENCOR- FLX-2320S versehen, um Verschmutzungen oder Partikel auf dem Wafer zu erkennen. Diese Maschine verfügt über hochempfindliche Erkennungsfunktionen mit mikroskopischer Bildgebung mit Submikron-Auflösung. Ein modularer Aufbau ermöglicht es, zusätzliche Komponenten hinzuzufügen, um das Werkzeug für spezifische Wafertests anzupassen. KLA- FLX-2320-S ist in der Lage, Substratzusammensetzung, optisch geprüfte Chips, Fehlerdichten und Test auf Leckage und kurze Hosen auf Wafern genau zu erkennen. Es kann auch Partikelgröße, Form und Position auf dem Wafer mit Sub-Mikron-Genauigkeit analysieren. KLA/TENCOR FLX 2320 S wurde entwickelt, um Wafer in Chargen von bis zu 1000 auf maximalen Durchsatz zu testen. Die automatisierte Selbsttest- und Validierungsfunktion stellt sicher, dass sich das Asset immer im Top-Betriebszustand befindet. Darüber hinaus umfasst FLX-2320S fortschrittliche Software zum Ausführen von Tests, zum Festlegen von Parametern und zum Analysieren von Ergebnissen. Die Ergebnisse werden in einer Datenbank gespeichert, um Performance und Trends im Laufe der Zeit zu verfolgen. Die Software verfügt auch über Datennachbearbeitungsfunktionen, um die Testergebnisse weiter zu verbessern. FLX 2320 S ist ein fortschrittliches Modell zur Prüfung und Messtechnik von Halbleiterscheiben. Es verfügt über eine optische bildgebende Ausrüstung mit einer Nanometerauflösung für hochgenaue Messungen, eine breite Palette von Partikelinspektionswerkzeugen zur Erkennung von Verunreinigungen oder Partikeln auf dem Wafer und automatisierte, hocheffiziente Funktionen für maximalen Durchsatz. Die Software ist leistungsstark und benutzerfreundlich mit umfangreichen Daten-Nachbearbeitungsfunktionen konzipiert, was KLA/TENCOR FLX-2320-S eine ideale Wahl für alle Halbleiter-Wafer-Test- und Analysebedürfnisse macht.