Gebraucht KLA / TENCOR FLX-2908 #293587318 zu verkaufen

KLA/TENCOR FLX-2908 ist eine „Wafer-Prüf- und Messtechnik“ -Ausrüstung, die verwendet wird, um eine breite Palette von Halbleiterparametern zu messen und zu überwachen. Das System umfasst eine Reihe von Modulen, die zur Handhabung von Tests und Messungen an verschiedenen Halbleiterprozessen und Substraten entwickelt wurden, mit dem Ziel, ein genaues und zuverlässiges Werkzeug zur Validierung der Geräteleistung bereitzustellen. KLA FLX-2908 unit verwendet eine hochauflösende Bildverarbeitungsmaschine, um Bilder der Waferoberfläche zu erfassen, die genaue und detaillierte Informationen über ihre Eigenschaften und Zusammensetzung liefert und präzise und spezialisierte messtechnische Messungen in einer Reihe von geometrischen Richtungen ermöglicht. Das mitgelieferte FTIR-Spektroskopiemodul misst eine Reihe von Parametern für Wafertests, wie die Gleichmäßigkeit der Dicke und Passivierungsschicht, die Materialzusammensetzung und den Widerstand. TENCOR FLX 2908 ist mit fortschrittlichen Algorithmen für Volumenfehler und nichtvolumetrische Fehlererkennung ausgestattet. Diese Algorithmen basieren auf der Auswertung von Textur- und Lichtemissionskarten und der Überprüfung der optischen Eigenschaften des Materials. Darüber hinaus kann das Gerät so eingestellt werden, dass Wafer mit der höchsten verfügbaren Geschwindigkeit gescannt werden können, was es zu einer idealen Wahl für die Prüfung großer Anzahl von Wafern während der Produktion macht. Die Eigenschaften von TENCOR FLX-2908 können auf die individuellen Prüfanforderungen jedes Anwenders und Prozesses zugeschnitten werden. Die mitgelieferte Werkzeugkiste für die Materialqualifizierung trägt dazu bei, dass die Ergebnisse den gewünschten Standards entsprechen, sodass die Einstellungen bei Bedarf schnell angepasst werden können. KLA/TENCOR FLX 2908 ist auch in der Lage, Daten zu verfolgen, so dass Benutzer die Ergebnisse vergangener Tests speichern und analysieren können. Dies ermöglicht es Benutzern, verschiedene Tests zu vergleichen und den Fortschritt ihrer Prozesse effizient zu verfolgen. Darüber hinaus sind die Ergebnisse für weitere Analysen leicht zugänglich und können für datenbasierte Entscheidungen verwendet werden, wodurch der Benutzer den gesamten Waferprozess effektiver verwalten kann. Insgesamt ist FLX-2908 ein wertvolles Werkzeug für alle, die an der Entwicklung und Produktion von Halbleitern beteiligt sind, und bietet eine einfach zu bedienende und qualitativ hochwertige Lösung für die Prüfung und Überwachung einer Vielzahl von Materialien und Prozessen. Die leistungsstarken Eigenschaften des Modells, kombiniert mit seiner Robustheit und Flexibilität, machen es zur perfekten Wahl für jede Wafertest- und messtechnische Anforderung.