Gebraucht KLA / TENCOR FLX-2908 #293590721 zu verkaufen

ID: 293590721
Weinlese: 1997
Thin film stress measurement system 1997 vintage.
KLA/TENCOR FLX-2908 ist eine vollautomatische, umfassende Wafer-Prüf- und Messtechnik (WTSM) für die Halbleiterindustrie. Es kombiniert die neuesten Mess- und Testwerkzeuge mit leistungsstarker Software- und Statistikhandhabung, um mehrere Waferoberflächen schnell und präzise zu charakterisieren und konsistente, zuverlässige Ergebnisse zu liefern. KLA FLX-2908 eignet sich für eine Vielzahl von Wafergrößen und Anwendungen, mit einer Vielzahl von Sonden, Mags und Kamerakonfigurationen. TENCOR FLX 2908 wurde entwickelt, um nicht nur Abstandsmessungen und Ebenheit, sondern auch Oberflächenrauhigkeit, Spannungsniveau und Lesbarkeit zu messen. Die Messinstrumentation wurde entwickelt, um die Waferoberfläche schnell zu charakterisieren und liefert detaillierte Ergebnisse, die Industriestandards erfüllen oder übertreffen. FLX 2908 ist ein sehr vielseitiges, einfach zu bedienendes System mit automatisierter Testeinrichtung, Datenerfassung und Analysefunktionen. Das Gerät verfügt über hochauflösendes Videomikroskop und digitale Videoaufnahme, einfache Benutzeroberfläche und computergestütztes 3D (CAD3D) Modell-Overlay für schnelle und einfache Maßmessung. KLA/TENCOR FLX 2908 beinhaltet auch eine Reihe von Werkzeugen zur Analyse von Oberflächenunregelmäßigkeiten und zur automatisierten Peakerkennung. Die statistische Analysemaschine TENCOR FLX-2908 bietet zudem eine ISO-Rückverfolgbarkeitssteuerung der Wafer-Testergebnisse. Es umfasst Software-Tools wie Rückverfolgbarkeitsdatenbanken, zum Speichern und Vergleichen von Testergebnissen, automatisierte statistische Analyseverfahren und Tools sowie eine leicht verständliche grafische Benutzeroberfläche. Die in der grafischen Benutzeroberfläche angezeigten Werte werden entsprechend den Echtzeittests auf FLX-2908 ständig aktualisiert. Leistungsstarke Programmier- und Automatisierungsfunktionen sind in der Software von KLA FLX 2908 enthalten. Die automatisierten Einstellungen und die Protokollverfolgung sorgen für wiederholbare Ergebnisse, während die grafische Benutzeroberfläche es ermöglicht, eine Vielzahl von benutzerdefinierten Parametern einzugeben und abzurufen. Zusammenfassend ist KLA/TENCOR FLX-2908 ein leistungsfähiges Wafer-Prüf- und Messtechnikwerkzeug, das für verschiedene Wafergrößen und Anwendungen geeignet ist. Es kombiniert automatisierte Testeinrichtung, Datenerfassung und -analyse, hochauflösendes Videomikroskop, digitale Videoerfassung und statistische Analysesoftware und ist damit eine zuverlässige, genaue und vielseitige Lösung für schnelle und wiederholbare Testergebnisse.
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