Gebraucht KLA / TENCOR FP-20 #293661858 zu verkaufen

KLA/TENCOR FP-20 ist ein vielseitiges, leistungsfähiges Wafer-Prüf- und Messtechnik-System, das eine zuverlässige Inspektion von integrierten Schaltungen (ICs) ermöglicht. Es ist eine Komplettlösung, die eine vollständige Abdeckung für alle Aspekte der Wafertests bietet, einschließlich schneller, genauer Messungen der elektrischen Eigenschaften verschiedener Arten von IC-Geräten. KLA FP-20 System basiert auf präzisen und wiederholbaren Instrumenten für Wafertests und Messtechnik. Es nutzt ein hochauflösendes Laserinterferometer, das genaue Messungen von Wafergröße, Form, Position und Topographie ermöglicht. Dies gewährleistet eine effiziente Prüfung einer Vielzahl von IC-Geräten, darunter CMOS, bipolare und SOI-Geräte. TENCOR FP-20 verfügt auch über fortschrittliche Software-Algorithmen und eine intuitive Benutzeroberfläche. Dies ermöglicht automatisierte, genaue und wiederholbare Wafertests, die eine minimale Benutzereinbindung erfordern. Die Software unterstützt auch mehrere Wafertypen, so dass sowohl Standard- als auch Nicht-Standard-IC-Geräte effizient getestet werden können. Die optischen messtechnischen Fähigkeiten von FP-20 bieten eine Reihe einzigartiger Vorteile gegenüber herkömmlichen Methoden, einschließlich verbesserter Wiederholbarkeit und Genauigkeit der Testergebnisse. Seine Messfunktionen ermöglichen auch schnellere Wafertests, da das High-Speed-Scanning schnelle und präzise Messungen in einem reduzierten Zeitrahmen ermöglicht. KLA/TENCOR FP-20 enthält auch eine Reihe von erweiterten Funktionen, die helfen können, Wafertests zu rationalisieren. Es bietet schnelle und genaue Messungen von mehreren Parametern, einschließlich Vorrichtung Blattwiderstand, Widerstand-Spannung, Kapazität-Spannung und Widerstand-Kapazität. Dies ermöglicht eine zuverlässige Charakterisierung und Belastungsprüfung von ICs mit unübertroffener Genauigkeit. Insgesamt ist KLA FP-20 ein fortschrittliches Wafer-Prüf- und Messtechnik-System zur Qualitätssicherung und Prozesskontrolle. Es bietet fortschrittliche Funktionen und Vorteile, darunter präzise und wiederholbare Instrumentierung, schnelle und genaue Messungen und robuste elektrische Charakterisierung. All diese Funktionen bilden die Grundlage für zuverlässige und effiziente Wafertests.