Gebraucht KLA / TENCOR FT-750 #148761 zu verkaufen

KLA/TENCOR FT-750 ist eine leistungsstarke Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur präzisen Charakterisierung und Prüfung von Halbleiterbauelementen. Das System ist mit drei separaten Modulen ausgestattet: KLA FT-750 Operating Unit, TENCOR FT 750 Metrology Machine und FT 750 Analysis Module. FT-750 Bedienwerkzeug ist für den Gesamtaufbau des Wafer-Prüfvorgangs verantwortlich. Es enthält eine Reihe von Software-Tools, die den Programmierprozess vereinfachen und es Anwendern ermöglichen, die genauen Anforderungen des Wafertestvorgangs, den sie durchführen möchten, schnell und einfach zu konfigurieren, z. B. die Art der durchzuführenden Analyse, die zu messenden Parameter, das physische Layout der Testumgebung und andere relevante Details. Das Asset speichert bequem alle mit dem gewählten Testvorgang verbundenen Einstellungen und Parameter und ermöglicht eine einfache Anpassung und Änderung des Testaufbaus. TENCOR FT-750 Metrologiemodell ist die Hauptprüfkomponente der Ausrüstung und ist sowohl für physikalische als auch elektrische Messungen des Wafermaterials verantwortlich. Seine Messfähigkeiten umfassen die Prüfung auf kritische Merkmale wie: Gate-Oxiddicke, Gate-Leckstrom, Gate-Kapazität, Gate-Widerstand, Gate-Spannung und Gate-Kapazität. Es hat auch die Fähigkeit, Geräteausbeute, Geräteausfallrate, Wafermüdung und Wafer Leckageraten zu messen. Dieses System ist hochpräzise und ermöglicht eine hohe Detektionsempfindlichkeit und Genauigkeit bei der Messung physikalischer und elektrischer Parameter des Wafermaterials. Schließlich ist das KLA/TENCOR FT 750 Analysis Module eine leistungsstarke Datenverarbeitungs- und Analysefähigkeit, die es Anwendern ermöglicht, die Ergebnisse ihrer Testoperationen schnell zu analysieren. Es kann verwendet werden, um die allgemeinen Trends und Zusammenhänge zwischen den verschiedenen gemessenen physikalischen und elektrischen Eigenschaften des Wafermaterials zu analysieren sowie Ausreißer oder abnorme Messungen zu erkennen. Dieses Analysetool kann detaillierte Informationen über die Qualität des Wafermaterials liefern und ist für die Optimierung der Produktionsleistung und Produktqualität unerlässlich. Insgesamt ist die Wafer-Prüf- und Messtechnik-Einheit KLA FT 750 eine effektive und vollständige Lösung zur präzisen Charakterisierung und Prüfung von Halbleiterbauelementen. Die Maschine ist in der Lage, verschiedene physikalische und elektrische Parameter des Wafermaterials mit hoher Genauigkeit und Empfindlichkeit zu messen und zu analysieren und mit den leistungsstarken Datenanalysefähigkeiten des KLA/TENCOR FT-750 Analysis Moduls können Anwender schnell die Ergebnisse ihrer Testoperationen untersuchen und anormale Messungen oder Trends erkennen. Dieses vielseitige Werkzeug ist ein wertvolles Werkzeug für jeden Halbleitertestbetrieb.