Gebraucht KLA / TENCOR FT-750 #293595756 zu verkaufen

KLA / TENCOR FT-750
ID: 293595756
Film thickness measurement systems.
KLA/TENCOR FT-750 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein automatisiertes Messsystem zur präzisen Messung von Halbleiterscheiben. Das Gerät ist komplett automatisiert, vom Probenladen bis zur Datenerfassung und -analyse. KLA FT-750 verwendet berührungslose optische Technologie, um hochpräzise Messungen von Funktionsgrößen und Profilen anzubieten, die für die Optimierung der Geräteleistung entscheidend sind. TENCOR FT 750 verfügt über eine hochgenaue, blei-schraubengetriebene automatisierte Stufe mit einer sehr schnellen Wafer-Handhabungsmaschine und 140 mm Waferkapazität. Es ist sowohl mit hoher Vergrößerungsoptik als auch mit zweifach niedriger Vergrößerungsoptik ausgestattet, um den Anforderungen der Probenmessung und der Bildaufnahme gerecht zu werden. Die fortschrittlichen Algorithmen zur automatischen Fokussierung und Bildverarbeitung bieten überlegene Bildqualität und genaue Daten. FT-750 bietet Anwendern die Möglichkeit, automatisierte Messungen, Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Wafer-Testmustern durchzuführen. Es bietet eine beispiellose Messgenauigkeit, wodurch Anwender den gesamten Waferprozess schnell und präzise abbilden können. Die Anlage ermöglicht die Messung der Scanzeiten so schnell wie 4 sec/100um und Scanabstände bis zu 4um und Vektorgeschwindigkeit bis zu 6.5mm/sec., alles unter Beibehaltung ausgezeichneter Wiederholbarkeit und Genauigkeit. KLA/TENCOR FT 750 verwendet auch eine Vielzahl von spezialisierten Software, einschließlich KLA proprietäre SoftCount™ Software, die schnelle, effiziente Mustererkennung und Modellkalibrierung bietet. Darüber hinaus verfügt die Ausrüstung über NeoTest, ein leistungsfähiges Bildanalysepaket zur präzisen Messung gleichmäßig wiederholter Merkmale. Die Software ermöglicht es Anwendern, präzise und konsistente Messungen ohne manuelle Interaktion oder Eingriffe durchzuführen. Insgesamt ist TENCOR FT-750 ein fortschrittliches Wafer-Prüf- und Messsystem, das präzise Messungen mit Genauigkeit und Wiederholbarkeit bereitstellt. Die fortschrittliche optische Technologie und das automatisierte Probenhandling ermöglichen Messungen, die schneller und zuverlässiger sind als je zuvor. Mit Unterstützung für branchenübliche Bild-, Daten- und Formatdateien bietet KLA FT 750 Anwendern unübertroffene Flexibilität, sodass sie jede Art von Prozess schnell und präzise analysieren können.
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