Gebraucht KLA / TENCOR FT-750 #9132987 zu verkaufen

KLA/TENCOR FT-750 ist eine führende Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die eine überlegene Leistung und Zuverlässigkeit bietet. Das System verwendet hochauflösende optische Inspektion mit schnellen Auslesungen und präziser manueller Steuerung, so dass Benutzer Oberflächenfehler genau erkennen, die Formgrößen messen und die Überprüfung der vorderen und hinteren Ausrichtung durchführen können. KLA FT-750 erreicht seine überlegene Leistung durch die Integration fortschrittlicher Technologien. Sein hochauflösender optischer Sensor mit einer breiten spektralen Empfindlichkeit ermöglicht hoch detaillierte und genaue Oberflächenmessungen. Das Gerät ist auch mit einem Hochgeschwindigkeits-Scan-Motor und einem breiten dynamischen Bereich von Fotodetektor ausgestattet, der schnelle Messauslesungen für eine breite Palette von Wafergrößen ermöglicht. Darüber hinaus ist TENCOR FT 750 in der Lage, volle 360 Grad Bildaufnahme für überlegene Sehabdeckung. KLA/TENCOR FT 750 Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine ermöglicht es Benutzern, falsche Positiven zu reduzieren, feine Oberflächenfehler zu erkennen und die Formgrößen mit beispielloser Genauigkeit zu messen. Unter Verwendung einer hochmodernen CCD-Kamera in Kombination mit proprietären integrierten Software-Algorithmen ist das Tool in der Lage, extrem kleine Fehler zu erkennen, auch bei niedrigen Beleuchtungsstufen. Die fortschrittliche automatische Positionierung und Verfolgung ermöglicht eine schnelle und genaue Platzierung der Matrizen und eine Reduzierung der Zykluszeit für die Überprüfung der Frontausrichtung. FT-750 bietet auch außergewöhnliche Prozesssteuerungsfunktionen. Onboard-Software ermöglicht es Benutzern, frühere Messungen mit Standard-, benutzerdefinierten oder benutzerdefinierten Messungen zu vergleichen, um schnelle und genaue Ergebnisse zu erzielen. Das Asset bietet zudem eine umfassende Datenanalyse für eine zuverlässige und wiederholbare Fehleranalyse auf Waferebene im Zeitverlauf. Insgesamt ist KLA FT 750 ein fortschrittliches Wafertest- und Metrologiemodell, das überlegene Leistung und Zuverlässigkeit bietet. Die integrierte optische Inspektion, der Hochgeschwindigkeits-Scanmotor, die CCD-Kamera und die integrierten Software-Algorithmen sorgen für genaue und schnelle Ergebnisse bei allen Wafergrößen mit höchster Präzision. Darüber hinaus verfügt das Gerät über überlegene Prozesssteuerungsfunktionen, die es Anwendern ermöglichen, Fehler schnell zu analysieren und Messungen für eine zuverlässige und wiederholbare Fehleranalyse auf Waferebene zu vergleichen.