Gebraucht KLA / TENCOR FT-750 #9155148 zu verkaufen

KLA/TENCOR FT-750 ist eine hochpräzise Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur Inspektion von Halbleiterscheiben und -Bauelementen. Es bietet Fehlerinspektionen, Gerätemessungen und Schichtdickenmessungen auf einer Vielzahl von Wafertypen und -größen, einschließlich nackter, gemusterter und verpackter Geräte. KLA FT-750 verfügt über ein leistungsstarkes Zeiss-optisches System mit großflächigen Detektoren und Submikron-Auflösung, was es ideal für die anspruchsvollen Aufgaben bei der Inspektion der mikroskopischsten Merkmale von Wafern und Halbleiterbauelementen macht. TENCOR FT 750 verwertet eine, Hochleistungshogenauigkeitsbalkenpositionierungseinheit, um eine breite Reihe von Eigenschaften auf einer Oblate oder Gerät, einschließlich Mängel, Unreinheiten, Verseuchungsstoffe und Defekte zu scannen. Darüber hinaus ist die Maschine mit einer Vielzahl von Automatisierungswerkzeugen ausgestattet, einschließlich Vakuumwaferkassetten und automatischen Ausrichtungswerkzeugen für nonstop automatisierte Tests. Das leistungsstarke, automatisierte Multi-Parameter-Messtechnik-Tool FT 750 ermöglicht eine präzise Bestimmung der Foliendicke, der Geschwindigkeit und des Widerstands von Schichten auf Wafern und Geräten. Dadurch wird sichergestellt, dass die strengsten Vorgaben von Hightech-Geräten erfüllt werden. Darüber hinaus bietet KLA/TENCOR FT 750 hochmoderne visuelle Inspektionsmöglichkeiten, einschließlich optischer Auflösung unter 0,5 µm. FT-750 verfügt über eine Vielzahl fortschrittlicher Steuerungstechnologien, einschließlich intuitiver Software und ergonomischer Schränke. Das eingebaute elektronische Kalibriermodell vereinfacht den Prozess der routinemäßigen Kalibrierung und Wartung. Dieses Gerät ist in der Lage, bis zu 500 Parameter gleichzeitig zu erfassen und zu analysieren, was es zu einem der leistungsfähigsten und effizientesten verfügbaren Wafer-Testsysteme macht. Abschließend bietet das Wafer-Prüf- und Messsystem KLA FT 750 höchste Präzision und Genauigkeit für die Prüfung und Überwachung der Qualität von Wafern und Halbleiterbauelementen. Die leistungsstarke automatisierte Multi-Parameter-Messtechnik und modernste visuelle Inspektionsmöglichkeiten sorgen dafür, dass die strengsten Spezifikationen von High-Tech-Geräten eingehalten werden.