Gebraucht KLA / TENCOR FT-750 #9155149 zu verkaufen

ID: 9155149
Wafer thickness measurement system, 4"-6" Voltage: 115 V Measures: Single Multilayer films 410" - 800" Reflectivity range contour Die 3D Mapping COGNEX 3100-4MB Vision system version: 1.20A Olympus MS plan: 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x Auto focus: 1.5-5 Second measure time integrated (2) Cassettes elevators Wafer sorting capability Integrated finder vacuum reset Frequency: 50/60 Hz Current: 1250 W.
KLA/TENCOR FT-750 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik, die eine umfassende Analyse von Halbleiterscheiben, ICs und Komponenten ermöglicht. KLA FT-750 unterstützt Wafer-Fertigungsprozesse wie Lithographie, Bindung, Filmabscheidung und Ätzen durch schnelle Messung und Charakterisierung eines breiten Spektrums kritischer Parameter mit genauen und wiederholbaren Ergebnissen. TENCOR FT 750 basiert auf einer fortschrittlichen Plattform, die optische Mikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie und andere Messtechniken zu einer All-in-One-Lösung kombiniert. Mit automatisierter Waferbelastung und Positionierung bietet das Gerät branchenführenden Durchsatz, überlegene Genauigkeit und Wiederholbarkeit für messtechnische, bildgebende und 3D-Profilmessungen. Darüber hinaus ist die Maschine in der Lage, mehrere wichtige Waferparameter zu messen, einschließlich Oberflächenrauhigkeit, Partikelzahlen, Fehlerdichte, Filmdicken, kritische Abmessungen und vieles mehr mit großer Präzision. KLA FT 750 ist mit mehreren wesentlichen Werkzeugen und Komponenten wie automatisiertem Wafer-Mapping, einer ultrapräzisen Z-Achse und einem leistungsstarken, PC-basierten Steuerungstool ausgestattet. Darüber hinaus ist das CCD-Bildverarbeitungsmaterial mit hochauflösenden Elementen und fortschrittlichen Software-Algorithmen für eine schnelle, genaue und wiederholbare Bildgebung und Analyse aufgebaut. Die intuitive Steuerung des Modells ermöglicht es dem Bediener, Messungen schnell und effizient einzurichten, zu kalibrieren und zu steuern. KLA/TENCOR FT 750 ist ein robustes, zuverlässiges und genaues System, das qualitativ hochwertige Ergebnisse für verschiedene Wafertestanwendungen bietet. Es verfügt über einen ultraglatten Wafer-Rotationsmechanismus zur präzisen Bewegungssteuerung sowie eine proprietäre Software zur Defekt- und Partikelcharakterisierung, die eine anspruchsvolle 3D-Rekonstruktion ermöglicht. Mit seinen automatisierten Mapping-Funktionen kann FT 750 eine Reihe kritischer Parameter in einem Durchgang effizient messen. Darüber hinaus ist das Gerät mit hoher Genauigkeit und Wiederholbarkeit ausgelegt. TENCOR FT-750 wird durch den renommierten Kundendienst der KLA sowie eine Reihe von technischen und Trainingsunterstützung unterstützt, um die Maschine in optimalem Zustand zu halten. Daher ist FT-750 ideal für eine breite Palette von Wafer-Testanwendungen und liefert zuverlässige und effiziente Ergebnisse, mit denen Ingenieure die Prozessqualität und -leistung optimieren können.
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