Gebraucht KLA / TENCOR FX 200 #293590632 zu verkaufen

KLA / TENCOR FX 200
ID: 293590632
Thickness measurement system.
KLA/TENCOR FX 200 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die für ihre hohe Leistung und Genauigkeit bekannt ist. Es soll Unternehmen helfen, die strengsten Anforderungen an Wafer-Tests und Messtechnik zu erfüllen und gleichzeitig Zeit und Geld zu sparen. KLA FX 200 nutzt die fortschrittliche KFA (KLA Foray Architecture) -Optik und die MPU-Technologie (Measurement Processing Unit). Die KFA-Optik ist für überlegene Bildqualität und robuste Leistung ausgelegt, wodurch eine häufige Kalibrierung oder Wartung entfällt. Seine fortschrittlichen Algorithmen sind in der Lage, Bilder von Wafern unterschiedlicher Größe und Materialien zu erfassen und zu speichern, um genaue Messungen durchzuführen und detaillierte Metriken wie Funktionsgröße, Form, Stress und Topographie zu erzeugen. TENCOR FX200 ist auch in der Lage, kritische Schichtfehler zu inspizieren und auf schnelles Handeln oder entsprechende Disposition zu verarbeiten. Die integrierte DSP-Technologie (Dynamic Separate Processor) ermöglicht es dem System, hochauflösende Bilder mit einer schnellen Geschwindigkeit zu verarbeiten, was es für die Fehleranalyse und die Ertragsoptimierung von unschätzbarem Wert macht. Darüber hinaus ist KLA/TENCOR FX200 unter Berücksichtigung einer modularen erweiterbaren Einheit konzipiert. Es verfügt über austauschbare Wagenmodule, mit denen man Prozessrezepte einfach optimieren kann, sowie Zubehör wie Strahlform und Spannungsregelhardware. Die benutzerfreundliche Benutzeroberfläche der Maschine und erweiterte Datenverarbeitungsfunktionen machen es einfach zu bedienen und zu warten. TENCOR FX 200 ist ein kostengünstiges Werkzeug bis hin zur Herausforderung von Anwendern, die die Qualität ihrer bestandenen und ausgefallenen Wafer messen, testen und analysieren oder komplexe Rezepte schnell für überlegene Ergebnisse verarbeiten müssen. Mit seiner fortschrittlichen Optik und Analytik hilft FX200, den Wafer-Test- und Messtechnik-Prozess zu optimieren und die Ergebnisse genau zu überwachen.
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