Gebraucht KLA / TENCOR HRP 340 #293656412 zu verkaufen

KLA/TENCOR HRP 340 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die eine umfassende Qualitätskontrolle für die Herstellung von Halbleiterbauelementen bietet. Es ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das Präzisionsdefektinspektion und messtechnische Messung mikrogroßer Strukturen ermöglicht. Dieses System ist für die automatisierte, Hochgeschwindigkeits-Wafer-Prüfung auf 300 Millimeter (mm) Wafern optimiert und enthält eine Vielzahl von Funktionen, um den Durchsatz zu beschleunigen und die höchste Genauigkeit zu bieten. KLA HRP 340 baut auf einer modularen Architektur auf, die bis zu drei gleichzeitige Mess- und Inspektionsaufgaben ermöglicht. Es handelt sich um eine 300 mm-Einheit mit einer einseitigen Zugriffskonfiguration, die für das High-Speed-Wafer-Scanning optimiert ist. Die Maschine enthält außerdem einen 6-Zoll-Drift-verbesserten DIP-Tisch und ein plasmafreies Probentransferwerkzeug. TENCOR HRP 340 verfügt über eine hochentwickelte bildgebende Komponente, die eine hochempfindliche Bildgebung sowie präzise messtechnische Messungen mit Sub-Nanometer-Auflösung ermöglicht. Das Modell verfügt über eine extra helle Halbmetall-Röntgenquelle und einen Hochleistungs-Ultraviolettlaser, der eine detaillierte Bildgebung und eine lange Fokustiefe ermöglicht. Die hochempfindliche Elektronenbildausrüstung ermöglicht eine präzise Erkennung von Mikrofehlern und bietet gleichzeitig 3D-Messfähigkeiten für die Gerätekennzeichnung. HRP 340 beinhaltet auch ein erweitertes Softwarepaket zur Systemsteuerung und Datenerfassung (K-STAR). K-STAR umfasst automatisierte Gerätesteuerungsfähigkeit, automatisierte Verarbeitung von Mess- und Bilddaten sowie automatisierte Fehlerklassifizierung. Es bietet auch Unterstützung für zahlreiche Industriestandard-Protokolle (z.B. IEEE, EDA, SIPI, ATE usw.), so dass es einfach ist, KLA/TENCOR HRP 340 in bestehende Produktionsprozesse zu integrieren. KLA HRP 340 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine, die präzise Mess- und Bildgebungsfunktionen für die Erkennung von Defekten und Dichtemessungen mit hoher Empfindlichkeit bietet. Es ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Steuerung von Prozess und Qualität für die Herstellung von Halbleiterbauelementen, da es ein fortschrittliches Bildverarbeitungswerkzeug, eine Asset-Control-Software und eine automatisierte Fehlerklassifizierung bietet - alles entworfen, um die höchste Genauigkeit für die Qualitätssicherung zu bieten.