Gebraucht KLA / TENCOR HRP 340 #9400332 zu verkaufen

KLA/TENCOR HRP 340 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die entwickelt wurde, um schnelle, genaue zerstörungsfreie Tests von IC- und MEMS-Wafern mit großem Durchmesser während des Herstellungsprozesses zu ermöglichen. Dieses System verwendet eine hochleistungsfähige ultraviolette Laserlichtquelle, die mit einer erweiterten optischen Messtechnik-Einheit gekoppelt ist, um die Dicke, planare Ebenheit, Kantengeradheit und andere physikalische Eigenschaften von Mikrostrukturen auf einem Halbleiterwafer genau zu messen. KLA HRP 340 ist mit fortschrittlichen Optik- und Detektoren ausgestattet, die es dem Anwender ermöglichen, messtechnische Informationen genau zu erfassen. Die Maschine besteht aus einem 4,3-Megapixel-Laserinterferometer; eine Autofokus/automatische Ausrichtungsfähigkeit, eine fortgeschrittene optische Messtechnik, die als „zweidimensionale Profilometrie“ bezeichnet wird, und ein automatisches Parameterberechnungswerkzeug. Diese Anlage ist speziell für die Prüfung und Messung von 1 „bis 8“ Zoll IC- und MEMS-Wafern konzipiert und ist in der Lage, alle erforderlichen Messungen in weniger als einer Minute abzuschließen. TENCOR HRP 340 bietet komplette Fehlererkennungsfunktionen und ist in der Lage, verschiedene Arten von Defekten wie Nadelöcher und Ätzschäden zu erkennen. Dieses Modell verfügt zudem über eine hohe Durchsatzleistung, die eine gleichzeitige Prüfung und Analyse von bis zu 200 Wafern pro Stunde ermöglicht. Darüber hinaus ermöglicht die automatisierte und benutzerfreundliche Oberfläche des Geräts die einfache Einrichtung und Bedienung sowie die Rückmeldung von Messergebnissen in Echtzeit. Darüber hinaus verfügt HRP 340 über erweiterte Inspektions-, Analyse- und Reporting-Funktionen. Dieses System ist in der Lage, nicht nachweisbare Fehler oder andere nichtdimensionale Merkmale zu identifizieren und zu messen und die Messergebnisse anschließend in den Bordspeicher zu speichern. Darüber hinaus kann der Anwender leicht einen sofortigen Vergleich seiner Testergebnisse mit vordefinierten Grenzwerten erhalten. Eine optionale zusätzliche Komponente, TDK Level 200, kann im Rahmen des Wafertests eine eingehende Analyse und einen vollständigen messtechnischen Bericht liefern. Insgesamt ist KLA/TENCOR HRP 340 eine leistungsstarke und hochentwickelte Wafertest- und Metrologieeinheit, die die physikalischen Eigenschaften von Mikrostrukturen auf einem Halbleiterwafer messen soll. KLA HRP 340 ist eine ideale Lösung für Halbleiter- und MEMS-Hersteller, die nach einer zuverlässigen und kostengünstigen Wafer-Testlösung suchen.