Gebraucht KLA / TENCOR / ICOS T830 #9227750 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9227750
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2015
Fully automatic inspection system, 12"
P/N: 0526600-000
xPVI: Top & bottom
3D Wave
Gull wing 3D inspection
Component height measurement on BGA
Component height caliber (11.25 x 11.25 x 1.2)
Component height caliber, TBD
SPC & Image review tool
Unit level traceability (Datamatrix)
OCR Verification on mark teach
Directional grouping
Advanced QFN2D/5S parameters
Advanced metrology
5-Lanes with (4) single reject trays
XY Automated dual row
Automated (4) inline sorting heads
Pocket integrity check
(5) Ionizer kits
(40) Pads, TBD
USB Barcode scanner
Vacuum pen kit
Tray orientation kit
(28) Nozzles
O-Ring, diameter 3.5 mm
Display, 22"
P/N: 0595046-000, Dent module
5S BGA/QFN Matrix mirror block
P/N: 0597136-000 System, OS test handler
P/N: 0602634-000 Kit, T8x0 OS docking
OS6 Conversion kit
P/N: 0616633-000 Upgraded T8x0R1, integrated tray bar code reader
Top DOL/FLB on IS2
P/N: 0613954-000 Kit, slim btm brushing, T8x0
P/N: 0603462-000 Kit, T8x0, light curtain
2015 vintage.
KLA/TENCOR/ICOS T830 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für hochpräzise Messungen von Transistoren, Widerständen und Kondensatoren sowohl auf kompletten Wafern als auch auf individuellen Werkzeugen entwickelt wurde. Sein Design ermöglicht eine äußerst genaue und wiederholbare Messung einzelner Transistoren sowie die Prüfung komplexer Geräte wie Multiplexer, Schieberegister und Logikfunktionen. KLA T830 System kommt mit einer integrierten seriellen hochauflösenden Kamera, die 4K digitale Bildgebung mit voller Bildrate Videoaufnahme Fähigkeiten verfügt. Es ermöglicht eine präzise Inspektion und Messung von enthaltenen Strukturen auf kompletten Wafern und Einzelwerkzeugen. Sein modernstes Design schließt eine Acht-Zoll-Hochleistungsscanstufe ein, die zur Abtastung bis zu 1200 fähig ist, sterben pro Sekunde. Die Auflösung der Abtaststufe von 10 Mikrometern erfasst genau die gesamte Düsenoberfläche und liefert Off-Axis, Cantilever und Die-by-die-Messungen aller Transistortypen. Darüber hinaus werden seine 3-dimensionalen Gerätemessungen verwendet, um die Strom-, Leistungs- und Spannungsleistung sowohl einzelner als auch komplexer Strukturen zu charakterisieren. Das ICOS T830 Gerät verfügt außerdem über ein Modul zur Mustererkennung und Bildverarbeitung, mit dem Fehler auf hochauflösenden Waferbildern schnell analysiert, bearbeitet und erkannt werden können. Die Maschine nutzt die neueste bildgebende Technologie, um umfassende Schaltungsmerkmale genau zu lokalisieren und zu kategorisieren, was eine äußerst genaue und präzise Diagnose von gefundenen Fehlern ermöglicht. Darüber hinaus verfügt das TENCOR T830 Tool auch über leistungsstarke PMA-Funktionen (Performance Modeling and Analysis). Die sechs Module wurden zur Vorhersage und Bewertung der Schaltungsleistung entwickelt und bieten umfassende Lösungen für die Inspektion von Konstruktionsregeln, Timings, Leistung, Strom, Spannung und mehr. Diese Funktionen werden in Kombination mit den fortschrittlichen Visualisierungstools sowohl für die Echtzeitanalyse als auch für die Offline-Analyse verschiedener Schaltkreismetriken verwendet. T830 ist eines der fortschrittlichsten Wafer-Prüf- und Messtechnik-Systeme auf dem Markt. Mit seiner integrierten 4K-Kamera, der leistungsstarken Scanstufe, dem Mustererkennungsgerät und dem umfassenden PMA-Leistungsmodell bietet es einzigartige Funktionen zur genauen Analyse, Messung und Diagnose einer Vielzahl von Geräten, die für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet sind.
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