Gebraucht KLA / TENCOR M-Gage 300 #293750339 zu verkaufen

KLA / TENCOR M-Gage 300
ID: 293750339
Wafergröße: 6"
AI Thickness measurement systems, 6".
KLA/TENCOR/PROMETRIX M-Gage 300 ist eine hocheffiziente Wafer-Prüf- und Messtechnik. Entwickelt für den Einsatz in der Halbleiterherstellung und -forschung, bietet KLA M-Gage 300 schnelle, genaue Wafermessungen bei nahtlosem Betrieb mit anderen Werkzeugen und Systemen. Das System basiert auf einer intuitiven grafischen Benutzeroberfläche (GUI), die es dem Benutzer ermöglicht, sich anzumelden und benutzerdefinierte Programme für Tests und Messtechnik mit minimaler Eingabe zu erstellen. TENCOR M-Gage 300 verfügt über integrierte Intelligenz, die es ermöglicht, Muster im Zusammenhang mit den Eigenschaften des getesteten Wafers schnell zu erkennen. Dies macht das Gerät sehr zuverlässig, wenn es um wiederholbare Ergebnisse geht. PROMETRIX M-Gage 300 nutzt fortschrittliche photometrische Bildgebung für die Waferinspektion und -analyse. Mit einer Kombination aus fortschrittlichen Licht-, Bild- und softwarebasierten Methoden kann die Maschine Variationen und andere Oberflächenfehler auf dem Wafer mit höchster Genauigkeit erkennen. Seine Konstruktion ermöglicht auch die Durchführung spezifischer Tests, wie kritische Dimension, Ätztiefe und Ebenheit, schneller und genauer als je zuvor. Die spektralen optischen Messfähigkeiten (SOM) des Werkzeugs ermöglichen die Erfassung hochpräziser Bilder des Wafers und ermöglichen eine größere spektrale Messung. Entwickler können die Spektraldaten verwenden, um Tiefen-, Farb- und Materialkarten des Wafers zu erstellen, sodass sie die Oberflächeneigenschaften genau messen können. Diese Technologie ermöglicht es dem Benutzer, Probleme zu finden, die sonst unerkannt bleiben würden, und ermöglicht es dem Benutzer, Probleme zu beheben, bevor sie zu großen Problemen werden. Das Asset umfasst auch messtechnische Funktionen, die es dem Benutzer ermöglichen, die Dicke und Zusammensetzung des Wafers zu überprüfen. Dieses Werkzeugset bietet dem Anwender die Möglichkeit, kritische Faktoren wie die Überlagerung einzelner Metalle, Metall-Isolatoren, Transistorschichten und Oxidabscheidungen genau zu messen. M-Gage 300 bietet eine hochpräzise Inspektion dieser Bereiche, so dass der Benutzer höchste Gleichmäßigkeit gewährleisten kann. KLA/TENCOR/PROMETRIX M-Gage 300 ist ein leistungsfähiges und zuverlässiges Werkzeug für Wafertests und Messtechnik; bietet Benutzern die Möglichkeit, die wichtigsten Merkmale eines Wafers genau zu messen. Seine robuste Konstruktion ermöglicht es dem Anwender, Muster und Oberflächenfehler schnell zu erkennen. Die spektrale optische Messung (SOM) und messtechnische Fähigkeiten geben dem Anwender die Möglichkeit, Oberflächeneigenschaften und andere kritische Faktoren mit extremer Genauigkeit genau zu messen. Mit dem KLA M-Gage 300 kann der Anwender sicherstellen, dass seine Wafer mit minimalem Aufwand produktionsbereit sind.
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