Gebraucht KLA / TENCOR Optiprobe 3260 #9269305 zu verkaufen

KLA/TENCOR Optiprobe 3260 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für fortschrittliche Qualitäts- und Prozesskontrolle. KLA Optiprobe 3260 unterstützt eine Reihe von Waferparametern wie Oberflächentopographie, Mikrofehler sowie automatisierte Fehlerklassifizierung. TENCOR Optiprobe 3260 nutzt die Rastersondenmikroskopie zur Messung der Oberflächentopologie des Wafers. Das System enthält einen abgeschalteten Sensor, der Partikel mit einem Durchmesser von weniger als 5 μ m detektieren kann. Durch optische Mikroskopie kann das Gerät auf Mikrofehler oder Beschädigungen im Wafer untersuchen. Die Maschine enthält auch erweiterte Optik für hochauflösende Bildabtastung und -analyse. Optiprobe 3260 enthält ein überlegenes Sondenwerkzeug, das eine hohe Genauigkeitsprüfung verwendet, um eine breite Palette von Mustern zu untersuchen. Das Asset verfügt auch über einen proprietären Digital Defect Classification (DDC) -Algorithmus, um identifizierte Fehler automatisch nach ihrer Größe und Form zu klassifizieren und eine erweiterte Prozesskontrolle zu ermöglichen. Darüber hinaus verfügt die KLA/TENCOR Optiprobe 3260 über ein proprietäres Overlay-Modell, das die Overlay-Genauigkeit von Wafern genau misst. KLA Optiprobe 3260 beinhaltet fortschrittliche Mustererkennungs- und Fehlerreduktionstechnologien, um Fehlalarme erheblich zu reduzieren und die Testzykluszeit zu verkürzen. Das Gerät verfügt auch über automatisierte Tester-Software, die es Herstellern ermöglicht, schnell zu programmieren und Tests durchzuführen, um die bestmöglichen Ergebnisse zu erzielen. Für die Produktion mit hohem Durchsatz verfügt die TENCOR Optiprobe 3260 über einen schnell umschaltenden Sensor, der es Herstellern ermöglicht, Qualität und Durchsatz auch bei hohen Durchsatzbedingungen aufrechtzuerhalten. Darüber hinaus verfügt das System über erweiterte Datenanalyse- und Berichtsfunktionen, die einen präzisen Vergleich von Wafern während Testzyklen und eine weitere automatisierte Prozesssteuerung ermöglichen. Die Datenanalyse und Berichtsfunktionen von Optiprobe 3260 umfassen die Fähigkeit, Wafer zu indexieren und zu vergleichen sowie die Fähigkeit, Ertrags- und Prozesseffizienzmessgrößen zu ermitteln. Das Gerät bietet auch kundenspezifisches Reporting, das auf die spezifischen Bedürfnisse des Kunden zugeschnitten ist. KLA/TENCOR Optiprobe 3260 erfüllt höchste Standards für Wafertests und Messtechnik. Die einzigartige Kombination aus fortschrittlicher Hardware, proprietären Algorithmen und robusten Datenanalyse-/Berichtsfunktionen stellt sicher, dass Hersteller erstklassige Leistungstests und -optimierungen erhalten.