Gebraucht KLA / TENCOR P-170 #293799729 zu verkaufen

KLA/TENCOR P-170 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für Halbleiter- und fortgeschrittene Materialforschung und -entwicklung. Es bietet eine umfassende Palette von Test-, Mess- und Charakterisierungsfunktionen, mit denen Materialforscher die elektronischen und strukturellen Eigenschaften von Halbleiter- und fortschrittlichen Materialien schnell und genau verstehen können. Herzstück des Systems ist ein neuartiges 6-achsig hochintegriertes Rastersondenmikroskop (SPM), das Nanometer-Skalenauflösung mit einem hochpräzisen Scanner kombiniert. Diese Kombination ermöglicht es Benutzern, komplexe Messungen auf der gesamten Oberfläche eines Wafers in einem einzigen Scan durchzuführen und ermöglicht eine schnelle und detaillierte Analyse der Materialeigenschaften wie Kontaktwiderstand, Topographie und Geräteleistung. Die Einheit zeigt auch eine Hochleistungs-3D-Kopierfräsmaschine, die eine Niedrigkohärenzlaserquelle verwendet, die mit einer kundenspezifischen Hardware und Softwareplattform verbunden ist, Profile von Oblateneigenschaften in Sekunden zu erwerben, ein unschätzbares Werkzeug für die interaktive Detaillierung und Vergegenwärtigung von Nanometer-Skalaeigenschaften bietend. Weitere Merkmale der KLA- P-170 sind fortschrittliches Chipdesign und Layout-Funktionen, integrierte Metrologie-Algorithmen, temperaturunabhängige Selbsttestroutinen und eine umfassende Software für erweiterte Analysen. Die intuitive grafische Benutzeroberfläche vereinfacht das Einrichten, Ausführen und Analysieren von Daten aus dem Tool und ermöglicht erfahrenen und Anfängern, mit minimalem Aufwand genaue Ergebnisse zu erzielen. Insgesamt baut TENCOR P-170 auf Jahren branchenführender Forschung und Entwicklung auf und bietet Anwendern leistungsstarke und zuverlässige Test- und Messtechnik-Fähigkeiten für Halbleiter und fortschrittliche Materialien. Von der schnellen Wafer-Profilierung bis zur genauen und detaillierten Porenanalyse bietet P-170 beispiellose Einblicke und Auflösung in die elektronischen und strukturellen Eigenschaften von Materialien.