Gebraucht KLA / TENCOR P-170 #293800460 zu verkaufen

KLA/TENCOR P-170 Wafer Testing and Metrology Equipment ist eine leistungsstarke Messtechnik-Plattform, die genaue, automatisierte Messungen und Analysen von Wafern, Halbleitern und MEMS-Geräten bietet. KLA P-170 verfügt über erweiterte optische Messtechnik-Funktionen zur genauen Analyse der Geräteeigenschaften in der Wafer-Produktionsumgebung. Es bietet fortschrittliche, berührungslose Bildgebung und Analyse von Geräten und bietet eine zuverlässige Methode zur Messung und Quantifizierung der Waferleistung. TENCOR P-170 verfügt über eine motorisierte Waferbühne, ein integriertes optisches Subsystem und eine intuitive Benutzeroberfläche für einfache Bedienung und Einrichtung. Die motorisierte Stufe bewegt den Wafer in eine Reihe von Positionen, genau und präzise, so dass die Analyse aller flachen Bereiche auf dem Wafer. Das optische Teilsystem besteht aus hochauflösenden Kameras, die bei der Bühnenbewegung kleinste Merkmale auf dem Wafer erkennen können, wodurch ein detailliertes Bild der Topographie des Wafers entsteht. Die intuitive Benutzeroberfläche ermöglicht eine schnelle Einrichtung und Dateneingabe für einen einfachen Workflow. P-170 verfügt auch über hochgenaue Positionierungs- und Abstandsausrichtungsfunktionen für schwer zugängliche Bereiche. KLA/TENCOR- P-170 können eine Vielzahl von Funktionen messen, einschließlich kritischer Parameter, die häufig in der Halbleiterherstellung verwendet werden, wie CD und Overlay. Das System kann Geräteabmessungen mit Sub-Nanometer-Genauigkeit sowie flache Flächeneigenschaften messen, die eine schnelle Identifizierung jeder möglichen Nichtkonformität im Fertigungsprozess ermöglichen. Die KLA P-170 ermöglicht zudem eine effiziente automatisierte Sortierung und Abbildung der Geräte und vereinfacht die Analyse der Wafer in der Produktionslinie. Für eine automatisierte Produktionsumgebung bietet TENCOR P-170 erweiterte Funktionen wie AutoFocus, das kontinuierliche Messungen von CD oder Komposition in nur 35 Sekunden ermöglicht. Das Gerät verfügt auch über Hochgeschwindigkeits-Indexierung und Geländekorrektur, die erstklassige Gleichmäßigkeit und Genauigkeit in allen seinen Messungen garantiert. Darüber hinaus bietet P-170 die Flexibilität, sich mit anderen Werkzeugen oder Teilen der Produktionslinie zu integrieren und Prozesse zu optimieren. Insgesamt ist KLA/TENCOR P-170 Wafer Testing and Metrology Machine eine All-in-One-Lösung, die eine schnelle, präzise und wiederholbare Analyse von Wafern, Halbleitern und MEMS-Geräten ermöglicht. Mit seinen fortschrittlichen messtechnischen Fähigkeiten, Messungen mit hoher Genauigkeit, einer intuitiven Benutzeroberfläche und fortschrittlicher Automatisierung bietet KLA P-170 eine genaue und effiziente Methode zur Analyse von Wafern in der Produktionsumgebung.