Gebraucht KLA / TENCOR P-170 #293800571 zu verkaufen

ID: 293800571
Wafergröße: 4"-6"
Weinlese: 2021
Surface profiler, 4"-6" Chuck, 8" Cassette, 8" Wafer type: LT / BD / SI SECS / GEM Automatic transfer hander Wafer thickness: 200 µm to 675 µm Alignment for notch and flatted wafers Constant stylus focus control (5) Measurement heads Monitor Dual view optics (top and side) Field of view: 850 x 1200 µm Digital camera: 5 MP Color Motorized level and theta axis Stylus with radius: 2 µm ProCal Wafer, 8" Controller Laser Dongle Operating system: Windows 7 PC Manuals 2021 vintage.
KLA/TENCOR P-170 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die hochgenaue und wiederholbare Ergebnisse liefert. Es bietet einen semiautomatischen Betrieb mit präziser manueller Bedienung bei Bedarf für raffiniertere Aufgaben. Die hohe Genauigkeit des Systems beruht auf seiner Fähigkeit, sowohl Düsen- als auch Wafer-Defekte am p-Typ-Knotenpunkt des Geräts zu messen und gleichzeitig integrierte Detailbilder für eine genauere Analyse bereitzustellen. Das Gerät verfügt über eine lange Arbeitskammer, die eine hohe Lichteinwirkung bietet und in der Lage ist, hochauflösende Messungen durchzuführen. Diese Kammer ist thermisch und elektronisch mit der optischen Maschine gekoppelt, was zu einer hohen Genauigkeit und Wiederholbarkeit der Messungen führt. Darüber hinaus ist das Tool mit einer benutzerfreundlichen Oberfläche ausgestattet, die eine einfache Bearbeitung und Verwaltung von Ergebnissen und Daten ermöglicht. KLA P-170 verfügt über eine Vielzahl von Funktionen zum Testen und Messen von Wafern mit hoher Genauigkeit. Das Asset ist in der Lage, Mapping auf der Ebene der Formen, Fehleranalyse auf der Ebene der Formen und Fehlerdichten auf der Ebene der Formen zuzuordnen. Es bietet auch einen Low-Light-Mapping-Modus, so dass das Modell Bilder mit der bestmöglichen Auflösung aufnehmen kann. Darüber hinaus verfügt das Gerät über Liniendichte, Formgleichmäßigkeit, Fehleranalyse, Overlay-Messtechnik, Messschablonen und benutzerdefinierte Kurvenkorrekturen. Als zusätzlichen Komfort ist das System mit einer Vielzahl von Software ausgestattet, die zwischen verschiedenen Versionen umgeschaltet werden kann, um maßgeschneiderte Programme für Wafertests und Messtechnik zu erstellen. Die integrierten Kalibrierroutinen ermöglichen eine einfache Einrichtung und Verwendung, und der Wafer-Integritätsmonitor bietet schnelles Feedback zu potenziellen Problemen, die vom Benutzer möglicherweise übersehen wurden. Abschließend ist TENCOR P-170 eine technologisch fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Einheit, die hochgenaue und wiederholbare Ergebnisse liefert. Die Maschine ist ergonomisch konzipiert, um es Anwendern zu ermöglichen, komplexe Tests und Messungen mit Leichtigkeit durchzuführen und dabei eine hohe Genauigkeit zu erhalten. Das Tool bietet auch mehrere Funktionen, die es hocheffizient und kostengünstig für Forschung und Produktion machen.
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