Gebraucht KLA / TENCOR P-20H #293652635 zu verkaufen

KLA/TENCOR P-20H ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die Hochgeschwindigkeits-Wafer-Prüf- und Messtechnik-Fähigkeiten für die Herstellung von Halbleiterbauelementen bietet. Das System ist für schnelle und genaue Wafer-Qualitätscharakterisierung und adaptive Prozesskontrolle konzipiert und ermöglicht die Herstellung von Hochleistungs-Wafer-Produkten. Es verfügt über ein umfangreiches Spektrum an messtechnischen Technologien, einschließlich optischer, elektrischer, mechanischer und chemischer Analysen, die für Wafertests und messtechnische Leistungen in einer Vielzahl von Anwendungen entwickelt wurden. KLA P20H kombiniert fortschrittliche bildgebende Technologien und fortschrittliche optische, elektrische, mechanische und chemische Charakterisierungstechniken, um Fehler in Wafern zu identifizieren und zu analysieren. Es verwendet eine Digitalkamera, um den Wafer abzubilden und kombiniert fokussierte Bildgebung mit variabler Winkelstreuung, um eine hochauflösende Bildgebung zur Fehlererkennung, Klassifizierung und Prozessoptimierung bereitzustellen. Eine Reihe von Tools sind integriert, einschließlich automatisiertes Mapping und Fehleranalyse, Overlay-Ausrichtung, Prozess-Monitoring-Tools, Signalverarbeitungstechniken und erweiterte Datenanalyse-Algorithmen. Das Gerät bietet automatisierte zerstörungsfreie Tests (NDT), die eine hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit in Wafertests und Messtechnik ermöglichen. Die hohe Geschwindigkeit von TENCOR P 20H sorgt dafür, dass Wafer-Tests schnell durchgeführt werden und eine rechtzeitige Anpassung der Produktionsprozesse ermöglicht. Neben seinen NDT-Fähigkeiten bietet TENCOR P-20H fortschrittliche messtechnische Analysen und integrierte Softwarepakete zur präzisen Charakterisierung von Waferprozessen und messtechnischer Leistung. Für die messtechnische Analyse stehen eine Vielzahl von Softwarepaketen zur Verfügung, wie z.B. Metrology Analysis Tool (MAT) und Process Analytic Machine (PAS). P 20H bietet zudem eine umfassende Rückverfolgbarkeit und Datenarchivierung. Es ermöglicht die vollständige Rückverfolgbarkeit und Datenarchivierung von messtechnischen Analysen, die für die Problemlösung und Prozessoptimierung unerlässlich sind. KLA P 20 H ist ein fortschrittliches Tool, das umfassende Wafer-Test- und Messtechnikfunktionen bietet. Es bietet ein hocheffizientes und genaues Mittel der Wafer-Prüfung und Messtechnik, so dass Benutzer ihre Prozesse für verbesserte Erträge und Produktleistung zu optimieren.