Gebraucht KLA / TENCOR P-6 #9230786 zu verkaufen
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ID: 9230786
Weinlese: 2012
Stylus profiler
Standard range: Microhead 5 SR
Sample stage area, 6" diameter
Vertical range: 327 µm
Force range: 0.5 mg to 50 mg
Scan length: 150 mm
Z Range: 1 mm
Does not include PC
2012 vintage.
KLA/TENCOR P-6 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die entwickelt wurde, um die Qualitätskontrolle und Leistung einer breiten Palette von Wafern und Substraten zu bewerten. Es bietet eine umfassende Reihe von Funktionen und Funktionen, um sicherzustellen, dass Wafer auf höchstem Standard produziert werden. KLA P-6 System ist in der Lage, optische Inspektion, Messung und Analyse von Wafern bis 6 "(150 mm) Durchmesser mit hoher Leistung und verfügt über eine Wafer-Handhabung, die an die sich ändernden Anforderungen des Herstellungsprozesses angepasst werden kann. Es ist auf Gleichmäßigkeit, Genauigkeit und Wiederholbarkeit ausgelegt und kann sowohl manuelle als auch automatisierte Operationen durchführen. Die integrierte optische Testtechnologie von TENCOR P6 verwendet hochauflösende bildgebende und spezialisierte optische Linsen, um Oberflächen auf Defekte und fehlerbedingte Ungleichmäßigkeiten zu untersuchen und zu analysieren. Es verfügt auch über ein Mehrkanal-Messtechnik-Tool, um eine Reihe von Messungen auf Waferoberflächen und quantitativen Vergleich der verschiedenen Wafer-Typen zu ermöglichen. KLA/TENCOR P6 Asset umfasst ein Automated Visual Inspection (AVI) -Modell zur Erkennung von Oberflächenfehlern und Oberflächenfehlern sowie erweiterte Partikelanalysefunktionen. Es enthält auch eine umfassende Datenbank von Fehlermetriken, die verwendet werden können, um Fehler in Wafern schnell zu identifizieren und zu lokalisieren. Die fortschrittliche Steuerungssoftware von P-6-Geräten ist auf Benutzerfreundlichkeit und Zuverlässigkeit ausgelegt und verfügt über ein flexibles rezeptbasiertes System, mit dem der Benutzer Vorgänge für Änderungen im Waferherstellungsprozess anpassen kann. Es enthält auch eine robuste Alarmeinheit, die Benutzer benachrichtigt, wenn Nichtübereinstimmungen erkannt werden, und ermöglicht eine einfache Analyse der Wafereigenschaften. P6-Maschine verfügt über eine breite Palette von anderen Funktionen wie automatisierte Handhabung und Transport, integrierte Reinraum, Automatisierung der Wafer-Ebene Operationen und integrierte Präzisionskalibrierung Fähigkeiten. Es enthält auch mehrere Optionen und Zubehör, um eine maßgeschneiderte Lösung für jeden Workflow zu ermöglichen. Insgesamt ist das Wafer-Test- und Metrologie-Tool KLA P6 ein fortschrittliches, anspruchsvolles Asset, das ein umfassendes Spektrum an Funktionen und Fähigkeiten zur Messung, Prüfung und Inspektion von Wafern und Substraten bietet. Es ist eine ideale Lösung für Hersteller und Organisationen, die genaue, wiederholbare und zuverlässige Wafer-Testergebnisse benötigen.
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