Gebraucht KLA / TENCOR P-7 #293632302 zu verkaufen

KLA/TENCOR P-7 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die für die Herstellung fortschrittlicher Halbleiterbauelemente entwickelt wurde. Es bietet eine umfassende Metrologie-Suite, mit der Bediener Auf-Wafer-Parameter wie Filmdicke, Linienbreite, Overlay und Transistorleistung auswerten können. Es bietet eine integrierte, automatisierte und wiederholbare Möglichkeit, Wafer-Merkmale schnell und nicht invasiv genau zu charakterisieren. Die KLA P-7 ist mit fortschrittlicher Optik und Hardware ausgestattet und bietet eine hervorragende Auflösung, Geschwindigkeit und Zuverlässigkeit. Um diese Leistung zu erreichen, verwendet das System mehrkanalige, multifunktionale Beleuchtungstechniken, um Merkmale auf der Waferoberfläche schnell und zuverlässig zu messen und zu analysieren. Die hochauflösende Bildaufnahmeeinheit erkennt automatisch Fehler, charakterisiert kritische Abmessungen und führt FIB-Bildgebung zur schnellen Analyse durch. Es kann auch große Stempel (300mm) mit hoher Präzision auslesen. Gleichzeitig verfügt die Maschine über einen erweiterten Muster-Matching-Algorithmus, der die Mustererkennung und die Stempelanpassung über große Bereiche hinweg unterstützt. TENCOR P 7 ist in der Lage, Daten schnell und genau zu erfassen und zu verarbeiten. Die integrierten Datenverarbeitungsalgorithmen und mathematischen Funktionen ermöglichen es, Prozesse zur Optimierung der Geräteleistung mit erheblicher Wiederholbarkeit zu analysieren und zu identifizieren. Das Tool ist auch mit einer intuitiven grafischen Benutzeroberfläche (GUI) mit leicht verständlichen Funktionen und Menüs ausgestattet. Darüber hinaus verfügt die Anlage über ein hocheffizientes integriertes Thermomanagementmodell, das Temperaturstabilität, Genauigkeit und Kontrolle gewährleistet. Dies gewährleistet höchste Genauigkeit in der Wafer-Prüfung und Messtechnik unabhängig von der Temperatur. Darüber hinaus ist die Lösung sehr fehlertolerant und ausfallsicher und stellt sicher, dass die Messungen sicher, zuverlässig und präzise sind. Insgesamt ist KLA/TENCOR P 7 Wafer-Prüf- und Metrologie-Ausrüstung eine ausgezeichnete Wahl für fortschrittliche Halbleiterbauelementproduktion. Mit integrierten Lösungen, effizientem Thermomanagement und leistungsstarken Datenverarbeitungsalgorithmen ist es das perfekte Werkzeug für die schnelle und genaue Messung und Analyse von Merkmalen auf der Waferoberfläche.