Gebraucht KLA / TENCOR P1 #165277 zu verkaufen

KLA/TENCOR P1 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik, die die präzise und effiziente Inspektion, Prüfung und Analyse von Halbleiterscheiben erleichtert. Das System kann eine breite Palette von Wafereigenschaften messen, einschließlich Wafereigenschaften wie Dicke, elektrischer Widerstand, optische Reflexion und mehr. KLA P-1 ist mit einer modularen Architektur konzipiert, die es ermöglicht, eine Reihe von Komponenten wie Scanner und Sonden für eine Vielzahl von Wafer-Testprozessen zu integrieren. Die Basis-TENCOR P 1-Einheit ist P1-V (Vision) -Maschine, die auf die Prüfung von 2D-Elementen wie Matrizen und Kontaktpads zugeschnitten ist. Das TENCOR P1-G (GaDRS) -Werkzeug ist für den Test von 3D-Elementen wie tiefen Gräben und Verbindungsvias maßgeschneidert. KLA P 1-AM (Array Measurement) Asset eignet sich für Wafer-Testprozesse mit hohem Durchsatz. Die Kerntechnologie der KLA P1-Plattform ist ihre hochauflösende Bildgebungsfähigkeit, die auf einer automatisierten Multispektralabbildung über mehrere Wellenlängen basiert. Dadurch kann jeder Wafer genau analysiert und inspiziert werden, während das dynamische Scannen genaue Messungen mehrerer Bereiche und mit hohem Durchsatz ermöglicht. Darüber hinaus bietet die P-1-Plattform Giga-Pixel-Imaging zur Unterstützung der industriellen Auflösung für alle Array-Messanwendungen. Verschiedene Lichtquellen können in die Plattform integriert werden, um Anwendungen von der 2D-Inspektion bis zur stereoskopischen Ansicht von 3D-Elementen zu unterstützen. P 1-Modell verfügt auch über fortschrittliche Software zur Datenerfassung, Analyse und Berichterstattung. Die TENCOR P-1 Software sorgt für maximale Flexibilität bei der Waferauswahl, -handhabung und -analyse. Viele integrierte Funktionen wie Automatisierung, Datenbankverwaltung, eine grafische Benutzeroberfläche (GUI) und Bildarchivfunktionen ermöglichen einen hohen Durchsatz. Um maximale Effizienz und Genauigkeit zu gewährleisten, werden KLA/TENCOR P-1 Geräte durch eingebaute Sensoren und geschlossene Feeds zur Steuerung, Wartung und Einstellung der Geräteeinstellungen unterstützt. Qualitätskontrolle und Kalibrierprozesse lassen sich einfach umsetzen. Das System ermöglicht auch den Anschluss mehrerer Sonden und Instrumente, so dass einfache parallele Prozesse durchgeführt werden können, während verschiedene Teile des gleichen Wafers gemessen werden. Insgesamt ist die Plattform KLA/TENCOR P 1 eine leistungsfähige und zuverlässige Einheit für die Prüf- und Messtechnikbedürfnisse der Halbleiterindustrie. Die hochauflösende Bildgebung, leistungsstarke Software und automatisierte Sensoren ermöglichen effiziente, präzise und zuverlässige Messungen. Der modulare Aufbau ist auch aufgrund der einfachen Integration, Wirtschaftlichkeit und Skalierbarkeit ein attraktives Merkmal.