Gebraucht KLA / TENCOR P1 #293590370 zu verkaufen

KLA/TENCOR P1 ist eine integrierte Messtechnik und Wafer-Prüfausrüstung, die für die leistungsstarke, Einzelwafer-Fehlerinspektion und Messtechnik für Halbleiter- und MEMS-Bauelemente entwickelt wurde. Das System kombiniert eine hochmoderne optische Bildgebungseinheit mit einer ganzen Reihe fortschrittlicher, adaptiver Messtechnikwerkzeuge, um genaue, detaillierte Daten über eine breite Palette von Waferstrukturen und -merkmalen zu generieren. Die Maschine ermöglicht eine schnelle und effektive Inspektion von Hunderten von Wafer-Strukturen und -Merkmalen auf einem Testbereich, so dass Chip-Hersteller Fehler zur weiteren Analyse identifizieren und isolieren können. Das fortschrittliche optische Bildgebungswerkzeug von KLA P-1 bietet eine hervorragende Auflösung kleiner Merkmale und Strukturen auf einem einzigen Wafer. Die Schwingungsdämpfung des Geräts ermöglichte eine hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit über zahlreiche Bilder hinweg. Das Modell ist auch sehr anpassungsfähig, so dass der Benutzer eine Vielzahl von Lichtquellen, Vergrößerungen und spektralen Empfindlichkeiten auswählen kann, um verschiedene Wafereigenschaften aufzunehmen. TENCOR P 1 ermöglicht eine schnelle Überprüfung und Analyse der elektrischen Eigenschaften von Defekten und Defektclustern, die während des Inspektionsprozesses erfasst wurden. Das Gerät kombiniert zwei automatische Positionierstufen, die mit einer statischen Messtechnik kombiniert werden. Auf diese Weise kann das System die Position und Größe mehrerer Teststellen schnell und genau abbilden, um Fehlerpositionen zu bestimmen, die überprüft und analysiert werden können. Darüber hinaus bietet das Gerät einen Vergleich mehrerer Wafer, so dass Benutzer Trends über verschiedene Wafereigenschaften hinweg schnell und genau erkennen können. Darüber hinaus bietet TENCOR P-1 erweiterte Erkennungsfunktionen. Seine mehrfachen Analysewerkzeuge können eine Vielzahl von Defekten und Fehlern erkennen und charakterisieren, die mit den elektrischen Eigenschaften von Komponenten verbunden sind. Zu diesen Werkzeugen gehören fortschrittliche Laserpulschemie und hochgenaue chemische Formulierungen zur Ermittlung anomaler Merkmale und Materialabweichungen. Darüber hinaus verfügt die Maschine über eine einzigartige Reihe von anspruchsvollen Defektklassifizierern, die in die Algorithmen des Tools eingebettet sind und eine schnelle und zuverlässige Erkennung eines nahezu grenzenlosen Bereichs von Waferdefekten und Fehlern bieten. Zusammenfassend ist P-1 eine integrierte messtechnische und Wafer-Testanlage, die detaillierte Daten zu einer Vielzahl von Waferstrukturen und -merkmalen bietet. Die überlegene optische bildgebende Ausrüstung des Modells und die hochgenauen messtechnischen Werkzeuge ermöglichen eine zuverlässige Identifizierung und Analyse von Defekten und Defektclustern. Darüber hinaus kombinieren seine erweiterten Erkennungsfunktionen mit den anspruchsvollen Defektklassifizierern des Systems, um eine nahezu unbegrenzte Auswahl an Waferdefekterkennung und -analyse bereitzustellen.