Gebraucht KLA / TENCOR P1 #293608786 zu verkaufen

KLA/TENCOR P1 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die für die Serienfertigung von integrierten Schaltungskomponenten (IC) entwickelt wurde. Das System nutzt eine automatisierte direkte Bildgebungsfähigkeit, die eine hochgenaue, zerstörungsfreie Analyse zahlreicher wichtiger Parameter wie Fehlergröße, Anzahl, Form und Typ ermöglicht. Das Gerät verfügt über eine Reihe von hochpräzisen optischen Instrumenten und integrierte Software, um eine effiziente Inspektion von bis zu 28 Silizium-Wafern in einem einzigen einfach zu bedienenden Betrieb zu ermöglichen. Die automatisierte Wafer-Inspektionsmaschine verfügt über drei Hauptkomponenten: Wafer Stage, Beleuchtungsvorrichtung und Bildverarbeitungswerkzeug. Die Wafer-Stufe des Vermögenswertes ist in der Lage, bis zu sechs gestapelte Wafer zu halten und führt Lebensdauerbehebungsoperationen zur genauen Platzierung des Wafers an der exakten Belichtungsstelle durch. Die Beleuchtungsarmatur fokussiert das bildgebende Licht von drei ergonomisch positionierten Lichtquellen, um eine erhöhte Gleichmäßigkeit der beleuchteten Felder über dem Wafer zu gewährleisten. Das Bildverarbeitungsmodell erfasst Bilder und verarbeitet sie dann, um verschiedene vordefinierte Chipparameter wie Fehlergröße, Anzahl, Form und Typ zu messen. Das Gerät verfügt auch über erweiterte Funktionen wie High-Speed-Wafer-Inspektion, On-Board-Video-Fähigkeit, und benutzerdefinierbare Defekt-Parameter. Diese Eigenschaften ermöglichen es dem System, Wafer schnell und präzise zu inspizieren, wodurch der Zeitaufwand für die Waferinspektion und -analyse reduziert wird. Darüber hinaus vereinfacht die intuitive Benutzeroberfläche des Geräts die Bedienung, sodass Benutzer Inspektionen schnell und einfach programmieren, Ergebnisse analysieren und die Maschineneinstellungen ändern können, um den Durchsatz und die Genauigkeit zu optimieren. Darüber hinaus ist die KLA P-1 mit Tools zur Systemqualifizierung und Prozessoptimierung ausgestattet. Diese Werkzeuge bieten eine automatisierte Überprüfung jeder Werkzeugkomponente vor jedem Wafer-Prüfvorgang. Diese automatisierte Überprüfung gewährleistet die Datengenauigkeit und -zuverlässigkeit durch die Überprüfung auf fehlerfreie Bildaufnahmen. Darüber hinaus bietet das Asset umfassende Berichte zur Optimierung der Produktrendite und der Prozessleistung. Insgesamt ist TENCOR P 1 ein fortschrittliches Wafertest- und Metrologiemodell, das für die Serienfertigung von IC-Komponenten entwickelt wurde. Die automatisierten Bildverarbeitungsfunktionen und die intuitive Benutzeroberfläche vereinfachen die Bedienung und optimieren den Durchsatz und die Genauigkeit. Darüber hinaus bieten die Tools zur Systemqualifizierung und Prozessoptimierung eine automatisierte Überprüfung und Berichterstattung zur Verbesserung der Produktausbeute und der Prozessleistung.