Gebraucht KLA / TENCOR P1 #9009071 zu verkaufen

KLA/TENCOR P1 ist eine fortschrittliche Wafer Testing and Metrology (WT&M) -Ausrüstung, die eine zuverlässige und effiziente Bewertung von Halbleiterscheiben zur Qualitätssicherung und -kontrolle ermöglicht. Das WT & M-System nutzt eine Kombination aus Hard- und Softwarekomponenten, um Funktionen auf dem Wafer genau zu messen und zu analysieren. Die Hardware-Komponente der KLA P-1-Einheit besteht aus einem fortschrittlichen Wafer-Scanner, der eine optische Inspektion des Wafers durchführt, um mögliche Fehler zu erkennen. Zum Transport des Wafers vom Scanner zum Messmodul wird eine automatisierte Probenladekammer mit optionalem Roboterarm oder manueller Beladung verwendet. Das Messmodul enthält eine LAD-Kamera, ein Bewegungsmodul und ein Beleuchtungsreferenzmodul, das für die Analyse von Konturen und Eigenschaften der Probe zur Ermittlung von Variationen oder Fehlern verantwortlich ist. Die Softwarekomponente der TENCOR P 1 Maschine beinhaltet eine benutzerfreundliche Schnittstelle für den manuellen oder automatisierten Betrieb. Diese Komponente ist für die Steuerung der Hardwarekomponenten und die Erfassung der Testergebnisse verantwortlich. Automatische Analyse- und Klassifikationsalgorithmen stehen zur Klassifizierung und Isolierung anomaler Messungen zur Verfügung. Wellenformanalyse, Profilanalyse, Kantenerkennung und FOV-Größe können verwendet werden, um den Wafer gründlich zu untersuchen und zu bewerten. Schließlich ist KLA/TENCOR P 1 Werkzeug entwickelt, um die Genauigkeit und Geschwindigkeit der Wafer Inspektion und Analyse zu erhöhen. Dank der benutzerfreundlichen Funktionen der Software können Administratoren Einstellungen einfach konfigurieren und schnell auf Testergebnisse zugreifen. Die Kombination der fortschrittlichen Hardware- und Softwarekomponenten von P 1 Asset bietet eine umfassende und zuverlässige Lösung, die von unschätzbarem Wert in der Wafer-Qualitätssicherung und -kontrolle ist.