Gebraucht KLA / TENCOR P10 #293655524 zu verkaufen

KLA/TENCOR P10 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein hochmodernes Inspektions- und Prüfgerät, das eine hohe Ausbeute und Fehleranalyse von Wafern ermöglicht. Es bietet erstklassige Kombination aus Wafer Level Defect Review, High-Speed Wafer Mapping und Testmessungen mit überlegener Datengenauigkeit und Auflösung. Das System schließt einen Mehrbalken optisches Mikroskop für genau untersuchte Bilder der kompletten Oblatenoberfläche ein, um Defekte mit der sehr hohen Auflösung, sowie eine Hochleistungsoblateneinheit der kartografisch darstellenden zu entdecken, um elektrische Eigenschaften wie Blattwiderstand, Blattkapazität zu messen und Widerstand der Oblate zu kontaktieren. KLA P-10 verwendet die neuesten messtechnischen Technologien wie fortschrittliches Abbe-Objektivdesign, piezobetätigte Objektivbewegung und hochauflösende optische Maschine, um extrem detaillierte Bilder mit erstklassiger Auflösung zu liefern. Das optische Mehrstrahlwerkzeug und die fortschrittlichen Rechenwerkzeuge ermöglichen es TENCOR P 10, den genauen Standort der Defekte auf dem Wafer zu erkennen und zu erfassen. Darüber hinaus bietet die Anlage sowohl Lasersonde als auch flüssigkeitsbasierte bildgebende Funktionen, um eine unübertroffene Präzision der Defekte praktisch ohne Artefakte oder Verzerrungen zu erzielen. KLA P10 bietet auch sehr schnelle Messungen und automatisierte Wafer-Bildgebung, die eine effiziente Analyse großer Wafer ermöglichen. Das Modell verfügt auch über eine automatisierte Ausrichtung, die den gesamten Prozess zur Inspektion mehrerer Wafer in einem einzigen Setup vereinfacht. Die mitgelieferte Software ist einfach zu erlernen und zu bedienen und ermöglicht schnelle, wiederholbare Messungen sowie erweiterte Analyse- und Berichtsfunktionen. KLA/TENCOR P 10 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein zuverlässiges, hochpräzises Instrument für die anspruchsvollsten Halbleiterprozesse. Seine fortschrittliche Optik, Hochgeschwindigkeits-Messfähigkeit und benutzerfreundliche Software machen es zu einer idealen Wahl für Wafer-Inspektion und Tests in der Produktionslinie, F&E und fortschrittliche Anwendungsentwicklung.