Gebraucht KLA / TENCOR P10 #293662984 zu verkaufen

KLA/TENCOR P10 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die entwickelt wurde, um Halbleiterscheiben und andere Substrate schnell und genau zu messen und zu inspizieren. Es ist mit fortschrittlicher Optik, Hardware und Software für automatisierte, berührungslose Messtechnik, Inspektion und Fehlerlokalisierung auf einer breiten Palette von Wafern und Substraten integriert. Das System ist in der Lage, hochgenaue Messungen zu erzielen und kann für verschiedene Testanwendungen wie Messschichtdicke, Oberflächentopographie, Partikelgröße und Zusammensetzung konfiguriert werden. KLA P-10 nutzt fortschrittliche Optik, um Bilder von einem Wafer oder Substrat zu erfassen. Es verwendet eine binokulare Abbildungseinheit mit drei Lasern und drei Infrarotkameras, um präzise 3-dimensionale Bilder des Wafers oder Substrats zu erfassen. Die Maschine kann dann schnell verschiedene Messungen aus dem Bild auswerten und extrahieren, wie Höhe, Breite, Tiefe, Oberflächenprofil und Filmdicke. Weitere Funktionen sind Fehlererkennung, Linienbreitenmessung, Overlay-Messung und Flat Space Inspection (FSI). TENCOR P 10 verfügt über eine eingebettete Touchscreen-Schnittstelle, die eine einfach zu bedienende Schnittstelle zur Programmierung und Steuerung des Tools bietet. Mit dem Touchscreen können Benutzer auch schnell auf Testberichte und -ergebnisse zugreifen. Das Asset verfügt außerdem über ein optionales automatisiertes Wafer-Handling-Modell, mit dem der Benutzer schnell zwischen verschiedenen Substraten wechseln kann, ohne die Optik manuell neu ausrichten zu müssen. TENCOR P10 ist hochgradig konfigurierbar und unterstützt eine Vielzahl von Energie-, Geschwindigkeits- und Auflösungseinstellungen, um eine breite Palette von Test- und Messtechnik-Anforderungen zu erfüllen. Das Gerät verfügt außerdem über eine erweiterte Mustererkennungsfähigkeit, die detailliertes Feedback zu schwierig zu erfassenden Merkmalen wie Submikron-Eigenschaften, Verunreinigungen und anderen subtilen Defekten liefert. Abschließend ist P 10 ein fortschrittliches Wafer-Prüf- und Messsystem, das entwickelt wurde, um Halbleiterscheiben und andere Substrate schnell und genau zu messen und zu inspizieren. Es ist mit fortschrittlicher Optik und Software für automatisierte, berührungslose Messtechnik, Inspektion und Fehlerlokalisierung ausgestattet. Das Gerät ist hochgradig konfigurierbar und unterstützt eine Vielzahl von Energie-, Geschwindigkeits- und Auflösungseinstellungen, um eine breite Palette von Test- und Messtechnik-Anforderungen zu erfüllen.