Gebraucht KLA / TENCOR P10 #293665059 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 293665059
Wafergröße: 3"
Surface profiler, 3"
Footprint (mm): 740 x 900 x 770 (WxDxH)
PC
Manuals.
KLA/TENCOR P10 Wafer Testing and Metrology Equipment ist eine integrierte, automatisierte Plattform für Wafertests und Messtechnik. Das System ist für die schnelle, genaue Analyse von dünnen Wafern konzipiert und ist in der Lage, Waferdicke, Gleichmäßigkeit und andere Parameter bis hin zu Submikron-Auflösungen zu analysieren. Das Gerät nutzt eine Kombination aus optischen und Röntgentechnologien, um Parameterdaten in Echtzeit zu messen und ermöglicht die Erfassung und Sammlung von Daten in hoch detaillierten visuellen Formaten. KLA P-10 Wafer Testing and Metrology Machine besteht aus drei Schlüsselkomponenten: der Test-X Prozesseinheit, der Optical Station und der Röntgenstation. Für die Steuerung des gesamten Waferversuchsprozesses ist die Einheit Test-X zuständig. Es ermöglicht Wafer-zu-Wafer-Tracking und bietet erweiterte Wafer-Manipulation und Handhabung. Die Optical Station bietet eine Inline-optische Inspektion mit einem hochauflösenden Bildgebungstool und leistungsstarken Algorithmen zur Verarbeitung und Analyse von Daten. Die Röntgenstation verwendet eine Röntgenanalysetechnologie, die dünnste Mikrostrukturschichten und komplexeste Topographien genau messen kann. TENCOR P 10 Wafer Testing and Metrology Asset bietet eine umfassende Palette von Datenanalysefunktionen. Es enthält eine voll funktionsfähige Software, mit der Benutzer Daten in einer Vielzahl von Formaten verarbeiten und analysieren können, einschließlich 3D-Strukturanalyse, Visualisierung und Reporting. Darüber hinaus kann das Modell für eine Reihe von Anwendungen wie Fehlererkennung, Ertragsanalyse, Produktqualifizierung und Messtechnik verwendet werden. Das Gerät ist für den Hochdurchsatz ausgelegt und kann bis zu 8 Wafer pro Minute probieren. TENCOR P-10 Wafer Testing and Metrology System ist entwickelt, um genaue, wiederholbare Tests mit einem hohen Maß an Zuverlässigkeit zu liefern. Es enthält eine automatisierte Kalibriereinheit, um sicherzustellen, dass die Tests über mehrere Studien hinweg konstant genau sind, und die Maschine ist so konform mit ESD und anderen Standards, wie von Industrie und Regierung gefordert. Das Tool ist mit einer Reihe von Datenspeicher- und Kommunikationsoptionen ausgestattet. Es umfasst ein integriertes Datenerfassungs- und Reporting-Asset, das eine schnelle Datenspeicherung und einen schnellen Zugriff ermöglicht. Darüber hinaus kann das Modell mit anderen Netzwerken verbunden werden und als Plattform für die Fernbedienung oder automatisierte Steuerung genutzt werden. Insgesamt ist KLA P 10 Wafer Testing and Metrology Equipment eine integrierte, automatisierte Plattform für Wafertests und Messtechnik. Es bietet eine Reihe von Funktionen und Funktionen, die es zu einem idealen Werkzeug für die Prüfung dünner Wafer und Messparameter mit Genauigkeit und Präzision machen.
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